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Resumen de contenidos para METREL CE MultiTesterXA
- Página 1 CE MultiTesterXA MI 3394 Manual de instrucciones Versión 2.5.5; Código nº 20 752 508...
- Página 2 Europea para las normativas EMC, LVD, ROHS © 2015 Metrel Los nombres comerciales Metrel, Smartec, Eurotest, Autosequence son marcas registradas o pendientes de registro en Europa y otros países. Esta publicación no puede ser reproducida o utilizada parcial o totalmente, en forma o medio...
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Página 3: Tabla De Contenido
Índice MI 3394 CE MultiTesterXA Í NDICE Descripción general ......................6 Advertencias y notas ...................... 6 1.1.1 Advertencias de seguridad ..................6 1.1.2 Advertencias relacionadas con la seguridad de las funciones de medición ..... 7 1.1.2.1 CA de AT, CC de AT, CA de AT programable, CC de AT programable ... 7 1.1.2.2... - Página 4 Índice MI 3394 CE MultiTesterXA 5.1.1 Estados de medición ....................34 5.1.2 Elementos de estructura................... 35 Indicación de estado de medición en el elemento de estructura ....35 5.1.2.1 5.1.3 Selección de un área activa en el Organizador de memoria ........36 5.1.4 Adicción de nodos en el Organizador de memoria ..........
- Página 5 Apéndice B - Notas sobre perfiles ................... 111 Apéndice C - Lista por defecto de pruebas automáticas............. 112 Apéndice D - Programación de pruebas automáticas en el Metrel ES Manager ....113 Área de trabajo del editor de pruebas automáticas ........... 113 Gestión de grupos de pruebas automáticas ..............
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Página 6: Descripción General
1.1.1 Advertencias de seguridad Para asegurar al usuario un alto nivel de seguridad en la realización de diferentes mediciones con el CE MultiTesterXA, así como para evitar daños en el equipo de prueba, es necesario tener en cuenta las siguientes advertencias generales: ¡Lea este manual de instrucciones con detenimiento, de lo contrario el uso de... -
Página 7: Advertencias Relacionadas Con La Seguridad De Las Funciones De Medición
Descripción general MI 3394 CE MultiTesterXA 1.1.2 Advertencias relacionadas con la seguridad de las funciones de medición 1.1.2.1 CA de AT, CC de AT, CA de AT programable, CC de AT programable Una tensión peligrosa de hasta 5 kV ó 6 kV ... -
Página 8: Normas Aplicadas
Descripción general MI 3394 CE MultiTesterXA 1.2 Normas aplicadas El dispositivo CE MultiTesterXA se fabrica y prueba de acuerdo a las siguientes normativas: Compatibilidad electromagnética (EMC) Equipos eléctricos para mediciones, control y uso en laboratorio – EN 61326-1 requisitos EMC – Parte 1: Requisitos generales Clase B (Equipo portátil utilizado en entornos EM controlados) -
Página 9: Conjunto Del Dispositivo Y Accesorios
Manual abreviado de instrucciones CD con el manual de instrucciones (versión completa) y software para PC Metrel ES Manager 2.2 Accesorios opcionales Vea la hoja adjunta para una lista de accesorios opcionales disponibles que puede solicitar a su... -
Página 10: Descripción Del Dispositivo
Descripción del dispositivo MI 3394 CE MultiTesterXA 3 Descripción del dispositivo 3.1 Panel frontal Figura 3.1: Panel frontal Conector de alimentación de red Fusibles F1, F2 (F 5 A / 250 V) Fusibles F3, F4 (T 16 A / 250 V) - Página 11 Descripción del dispositivo MI 3394 CE MultiTesterXA Puerto RS232-2 multipropósito Conector Ethernet Conector USB Ranura para tarjeta MicroSD...
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Página 12: Empleo Del Dispositivo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4 Empleo del dispositivo El instrumento CE MultiTesterXA se puede operar a través de un teclado o de la pantalla táctil. 4.1 Significado general de las teclas Teclas de dirección se utilizan para: seleccionar la opción apropiada. -
Página 13: Comprobaciones De Seguridad
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.3 Comprobaciones de seguridad Al inicio y durante su funcionamiento, el instrumento realiza varias comprobaciones de seguridad para garantizar la seguridad y para prevenir cualquier daño. Estas pruebas previas de seguridad comprueban si hay: ... - Página 14 MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo contrario. no. Seleccione YES (Sí) para proceder con o NO para cancelar la medición. Resistencia L-N < 30 Ω En la preprueba se midió una muy baja resistencia de entrada del objeto a prueba. Esto puede resultar en una corriente alta después de meter alimentación al objeto a...
- Página 15 MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo La corriente de fuga medida (Idiff, Ipe, Itouch) fue superior a 20 mA. Se abortó la medición. Pulse OK para continuar. La corriente de carga excedía el límite superior de 10 A para la prueba de tiempo de descarga. Se abortó la medición.
- Página 16 MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo ¡Atención! ¡Hay/habrá alta tensión en la salida del instrumento! (tensión de prueba de aguante, tensión de prueba de aislamiento o tensión de red). ¡Atención! ¡Hay/habrá alta tensión peligrosa en la salida del instrumento! Tensión de prueba de aguante de tensión: Ha pasado la prueba con éxito...
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Página 17: Menú Principal Del Dispositivo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.5 Menú principal del dispositivo Desde el menú principal del dispositivo, se puede acceder a los menús de funciones principales. Figura 4.1: Menú principal Opciones Pruebas individuales Menú con las pruebas individuales, consulte el capítulo 6 Pruebas . -
Página 18: Configuración General
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.6 Configuración general En el menú de configuración general se pueden establecer o ver diferentes parámetros y configuraciones del dispositivo. Figura 4.2: Menú de configuración Opciones en el menú de configuración general Idioma Selección de idioma en el instrumento... -
Página 19: Idioma
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo Acerca de Información del instrumento. 4.6.1 Idioma Puede establecer el Idioma del dispositivo en este menú. Figura 4.3: Menú de selección de idioma 4.6.2 Fecha y hora Se pueden establecer la fecha y hora en este menú. -
Página 20: Cambiar La Contraseña Para Funciones De At
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.6.6 Cambiar la contraseña para funciones de AT En este menú se puede establecer, cambiar o desactivar la contraseña que permite activar las funciones de AT. Figura 4.5: Menú de configuración inicial Notas: La contraseña predeterminada es 0000. -
Página 21: Ajustes Iniciales
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo El instrumento se comunica usando el protocolo UDP/IP. El máximo tamaño del paquete UDP es 1024 bytes. En el modo manual, el usuario debería Mascara de XXX.XXX.XXX.XXX subred introducir el valor correcto. En modo manual, dependiendo de la topología Puerta por XXX.XXX.XXX.XXX... -
Página 22: Acerca De
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo Nota: Las siguientes opciones modificadas se mantendrán: Ajustes de perfil Datos en la memoria Contraseña para las funciones de AT 4.6.9 Acerca de En este menú se pueden ver datos del instrumento (nombre, número de serie, versión y fecha de calibración). -
Página 23: Gestor De Áreas De Trabajo
4.8.1 Áreas de trabajo y exportaciones Las labores realizadas con el CE MultiTesterXA MI 3394 se pueden organizar con ayuda de las áreas de trabajo y las exportaciones. Las exportaciones y las áreas de trabajo contienen todos los datos relevantes (mediciones, parámetros, límites, estructuras) de un trabajo individual. -
Página 24: Menú Principal Del Gestor De Áreas De Trabajo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.8.2 Menú principal del gestor de áreas de trabajo En el gestor de áreas de trabajo, las áreas de trabajo y las exportaciones aparecen en dos listas separadas. Figura 4.11: Menú principal del administrador de áreas de trabajo Opciones Lista de áreas de trabajo. -
Página 25: Operaciones Con Las Exportaciones
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo Figura 4.12: Menú de áreas de trabajo Opciones Marca el área de trabajo abierta en el organizador de memoria. Abre el área de trabajo seleccionada en el organizador de memoria. Para más información, consulte los capítulos 5 Organizador de memoria y 4.8.2.4 Abrir un área de trabajo... -
Página 26: Añadir Una Nueva Área De Trabajo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo Opciones Elimina la exportación seleccionada. Para más información, consulte el capítulo 4.8.2.5 Eliminar un área de trabajo / Exportación. Importa una nueva área de trabajo desde las exportaciones. Para más información, consulte el capítulo 4.8.2.6 Importar un área de trabajo. -
Página 27: Abrir Un Área De Trabajo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.8.2.4 Abrir un área de trabajo Se puede seleccionar un área de trabajo de la lista que hay en la pantalla del gestor de áreas de trabajo. Abra un área de trabajo en el gestor de áreas de trabajo. -
Página 28: Importar Un Área De Trabajo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo Antes de eliminar el área de trabajo / exportación seleccionada, se le pide confirmación al usuario. El área de trabajo / exportación se elimina de la lista de áreas de trabajo / exportaciones. -
Página 29: Exportar Un Área De Trabajo
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo El archivo de exportación importado se agrega a la lista de áreas de trabajo. Nota: Si existiese un área de trabajo con el mismo nombre, se le añadirá una extensión al nombre del área de trabajo importada (name_001, name_002, name_003,...). -
Página 30: Grupos De Pruebas Automáticas
Empleo del dispositivo 4.9 Grupos de pruebas automáticas Las pruebas automáticas en el CE MultiTesterXA MI 3394 se pueden organizar en listas de pruebas automáticas. En una lista se almacena un grupo de pruebas automáticas similares. El menú de grupos de pruebas automáticas está pensado para gestionar diferentes listas de pruebas automáticas que estén almacenadas en la tarjeta microSD. -
Página 31: Operaciones En El Menú De Grupos De Pruebas Automáticas
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.9.1.1 Operaciones en el menú de grupos de pruebas automáticas: Opciones Se abre la lista de pruebas automáticas. Se cerrará automáticamente la lista previamente seleccionada de pruebas automáticas. Para más información, consulte el capítulo 4.9.1.2 Seleccionar una lista de pruebas automáticas. -
Página 32: Eliminar Una Lista De Pruebas Automáticas
MI 3394 CE MultiTesterXA Empleo del dispositivo 4.9.1.3 Eliminar una lista de pruebas automáticas. Puede seleccionar la prueba automática que desee borrar en el menú de grupos de pruebas automáticas. Entre en la opción que permite eliminar una lista. -
Página 33: Organizador De Memoria
Los datos se organizan en una estructura de árbol con los elementos de la estructura y las mediciones. El CE MultiTesterXA tiene una estructura fija de nivel tres. La jerarquía de elementos de la estructura en árbol se muestra en la Figura 5.1. -
Página 34: Estados De Medición
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Figura 5.2: Ejemplo de un menú de árbol 5.1.1 Estados de medición Cada medición tiene: un estado (éxito, fracaso o sin estado) un nombre resultados límites y parámetros Una medición puede ser una prueba individual o una prueba automática. Los estados de las pruebas individuales son: ... -
Página 35: Elementos De Estructura
una indicación del estado de las mediciones bajo el elemento de estructura un comentario o un archivo adjunto Los elementos de estructura soportados por el CE MultitesterXA se describen en Apéndice A - Elemento estructura el CE MultiTesterXA. -
Página 36: Selección De Un Área Activa En El Organizador De Memoria
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria completado todas mediciones bajo elemento estructura seleccionado pero uno o más resultados medición fallado. Figura 5.6: Estado - Mediciones completadas con resultado/s fallidos Nota: No existe ninguna indicación de estado si todos los resultados de las mediciones bajo ... -
Página 37: Adicción De Nodos En El Organizador De Memoria
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria área trabajo está nuevo seleccionada y aparecerá en la pantalla. 5.1.4 Adicción de nodos en el Organizador de memoria Los elementos estructurales (Nodos) son usados para facilitar la organización de los datos en el organizador de memoria. -
Página 38: Operaciones En El Menú De Árbol
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria 5.1.5 Operaciones en el menú de árbol En el organizador de memoria se pueden realizar diferentes acciones con ayuda del panel de control en el lado derecho de la pantalla. Las acciones posibles dependen del elemento seleccionado en el organizador. -
Página 39: Operaciones De Elementos De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Agrega una nueva medición. El instrumento pasa al menú de agregar mediciones. Para más información, consulte el capítulo 5.1.5.5 Añadir una nueva medición. Elimina una medición. Elimina la medición seleccionada. Antes de eliminarla, se le pide confirmación al usuario. -
Página 40: Ver / Editar Parámetros Y Adjuntos De Un Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Archivos adjuntos. Se muestra el nombre y enlace del archivo adjunto. Clona un elemento de estructura. Copia el elemento de estructura seleccionado en el mismo nivel en el árbol de estructura (clonar). Para más información, consulte el capítulo 5.1.5.6 Clonar un elemento de estructura.. -
Página 41: Agregar Un Nuevo Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria En el menú de edición de parámetros, puede seleccionar el valor del parámetro de la lista desplegable o través del teclado. Para más información sobre el uso del teclado, consulte el capítulo 4 Empleo del dispositivo. -
Página 42: Añadir Una Nueva Medición
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Se puede editar el nombre del elemento de estructura. Se pueden editar los parámetros de la estructura. Agrega el elemento de estructura seleccionado y sus parámetros en el menú de árbol. Vuelve al menú de árbol sin cambios. -
Página 43: Clonar Un Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Añadir una medición Figura 5.11: Añadir un nuevo menú de medición Se puede seleccionar el tipo de prueba en este campo. Opciones: (Pruebas individuales, pruebas automáticas) Pulse en el campo o presione la tecla ENTER para modificarlas. - Página 44 MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Clonar Figura 5.12: Menú de clonación de elemento de estructura...
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Página 45: Clonar Una Medición
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Procedimiento y opciones Seleccione el elemento de estructura que va a clonar. Seleccione la opción «clonar» desde panel de control. Clonar Aparecerá el menú de clonar un elemento de estructura. Los subelementos del elemento de estructura seleccionado se pueden marcar o desmarcar para ser clonados. -
Página 46: Copiar Y Pegar Un Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Seleccione la medición a clonar. Seleccione la opción «clonar» desde panel de control. Clonar Se muestra la nueva medición vacía. 5.1.5.8 Copiar y pegar un elemento de estructura En este menú el elemento de estructura seleccionado puede copiarse y pegarse a cualquier nivel permitido en el árbol de estructura. -
Página 47: Copiar Y Pegar Una Medición
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Seleccione la opción de pegar desde panel de control. Pegar Aparecerá el menú para pegar un elemento de estructura. Antes de copiarlo, se puede establecer qué subelementos del elemento de estructura seleccionado se copiarán también. -
Página 48: Eliminar Un Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Procedimiento Seleccione el elemento de estructura para copiar. Seleccione la opción de copiar desde el panel de control. Copiar Seleccione la ubicación donde quiere copiar el elemento de estructura. ... -
Página 49: Eliminar Una Medición
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Seleccione el elemento de estructura a eliminar. Seleccione la opción de eliminar desde panel de control. Eliminar Aparecerá una ventana de confirmación. Se eliminan el elemento de estructura seleccionado y sus subelementos. -
Página 50: Cambiar El Nombre Un Elemento De Estructura
MI 3394 CE MultiTesterXA Organizador de memoria Aparecerá una ventana de confirmación. La medición seleccionada se eliminará. Vuelve al menú de árbol sin cambios. 5.1.5.12 Cambiar el nombre un elemento de estructura En este menú se puede cambiar el nombre al elemento de estructura seleccionado. -
Página 51: Pruebas Individuales
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6 Pruebas individuales 6.1 Selección de pruebas individuales Las pruebas individuales solo pueden seleccionarse desde el menú principal de prueba individual o desde el menú principal o submenús del organizador de memoria. En el menú... -
Página 52: Pantallas De Pruebas Individuales
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Para el grupo seleccionado se muestra un submenú todas pruebas pertenecen al grupo seleccionado. Selector en cruz Este modo de selección es la forma más rápida para trabajar con el teclado. Los grupos de pruebas individuales están organizados en una fila. -
Página 53: Ajuste De Parámetros Y Límites De Pruebas Individuales
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Name of function Main result Options Subresult Parameters (white) and Statuses, info, warnings limits (red) Figura 6.1: Organización de la pantalla de prueba individual 6.1.2 Ajuste de parámetros y límites de pruebas individuales Figura 6.2: Pantallas del menú de establecimiento de límites y parámetros de prueba individual Selecciona el parámetro (blanco) o límite (rojo). -
Página 54: Pantalla De Inicio De Prueba Individual
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.1.3 Pantalla de inicio de prueba individual Figura 6.3: Pantalla de inicio de prueba individual Opciones (antes de la prueba, la pantalla ha sido abierta en el organizador de memoria o desde el menú principal de prueba individual) Inicia la medición. -
Página 55: Pantalla De Prueba Individual Durante La Prueba
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.1.4 Pantalla de prueba individual durante la prueba Figura 6.4: Pantalla de prueba individual (durante la medición) Opciones (durante una prueba) Detiene la medición individual. Procede al siguiente paso de la medición (si la medición tiene más pasos). - Página 56 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Guarda el resultado. SI ha seleccionado una nueva medición y la ha iniciado desde un elemento de estructura en el árbol de estructura: La medición se guardarán en el elemento de estructura seleccionado. Si ha iniciado una nueva medición desde el menú principal de la prueba individual: La opción por defecto para el guardado, será...
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Página 57: Pantalla De Memoria De Pruebas Individuales
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.1.6 Pantalla de memoria de pruebas individuales Figura 6.6: Pantalla de memorias de pruebas individuales Opciones Vuelve a hacer la prueba Entra en la pantalla con una medición "vacía". Abre el menú para ver los parámetros y límites. -
Página 58: Mediciones De Pruebas Individuales
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.2 Mediciones de pruebas individuales 6.2.1 Continuidad Figura 6.8: Menú de prueba de continuidad Resultados de la prueba / subresultados R ....Resistencia Parámetros de prueba Conexiones de salida Salida [4 hilos, P-PE] Corriente de prueba Salida de I [0,2 A, 4 A, 10 A, 25 A] Duración... - Página 59 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.9: Medición de continuidad de 4 hilos Figura 6.10: Medición de continuidad de P/S - PE Procedimiento de medición de continuidad Seleccione la función Continuidad. Establezca los parámetros/límites. Conecte las puntas de prueba a los bornes C1, P1, P2 y C2 del instrumento (4 cables), o conecte las puntas de prueba al borne P/S (medición de 2 hilos P/S-PE).
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Página 60: Compensación De La Resistencia De Los Cables De Prueba
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.11: Ejemplos de resultados de la medición de la continuidad 6.2.1.1 Compensación de la resistencia de los cables de prueba Este capítulo describe como compensar la resistencia de los cables de prueba en la función Continuidad (Salida = P/S –... -
Página 61: Ca De At
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.13: Resultados antes y después de la compensación Nota: La compensación de los cables de prueba es llevada a cabo con la corriente de prueba seleccionada (I out). 6.2.2 CA de AT NOTA IMPORTANTE DE SEGURIDAD Consulte el capítulo 1.1 Advertencias y notas para obtener más información acerca del uso... - Página 62 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Límite inferior Límite L [Off, 0, 5 mA... 100 mA] Circuito de prueba Figura 6.14: Medición de CA de AT Procedimiento de medición de CA de AT Seleccione la función de CA de AT.
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Página 63: Cc De At
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.2.3 CC DE AT NOTA IMPORTANTE DE SEGURIDAD Consulte el capítulo 1.1 Advertencias y notas para obtener más información acerca del uso seguro del instrumento. Figura 6.16: Menú de prueba de CC DE AT... - Página 64 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Resultados de la prueba / subresultados U ....Tensión de prueba medida I ....Corriente de prueba Parámetros de prueba Tensión prueba U prueba [500 V... 6000 V en pasos de 50 V] Duración T final [Off, 1 s...
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Página 65: Ca De At Programable
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.18: Ejemplos de resultados de la medición de CC de AT Nota: La primera medición de AT después de encender el instrumento (si está activada protegido con contraseña) o la primera medición de AT después de la activación o cambio de contraseña requieren introducir la contraseña para permitir la prueba de AT. - Página 66 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.20: Menú de prueba programable de CA de AT Resultados de la prueba / subresultados I ....Corriente de prueba U ....Tensión de prueba medida Ir ....Parte resistiva de la prueba de corriente Ic ....
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Página 67: Cc De At Programable
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Procedimiento de prueba de CA de AT programable Seleccione la función de CA de AT programable. Establezca los parámetros/límites. Conecte las puntas de prueba a los bornes de AT (~,+) y AT (~,-) en el instrumento. - Página 68 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Resultados de la prueba / subresultados U ....Tensión de prueba medida I ....Corriente de prueba Ic ....Parte capacitiva de la prueba de corriente Ir ....Parte resistiva de la prueba de corriente Parámetros de prueba...
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Página 69: Resistencia De Aislamiento (Rais, Rais-S)
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.25: Ejemplos de resultados de la medición de CC de AT programable Nota: La primera medición de AT después de encender el instrumento (si está activada protegido con contraseña) o la primera medición de AT después de la activación o cambio de contraseña requieren introducir la contraseña para permitir la prueba de AT. - Página 70 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Circuitos de prueba Figura 6.27: Medición de resistencia de aislamiento (AIS (+), AIS(-)) Figura 6.28: Medición de resistencia de aislamiento (Enchufe LN - PE)
- Página 71 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.29: Medición de Rais, Rais-S (enchufe) Procedimiento de medición RAIS Seleccione la función de Rais. Establezca los parámetros/límites. Conecte las puntas de prueba a los bornes AIS(+), AIS(-) del instrumento, luego conecte las puntas de prueba al objeto a prueba, o ...
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Página 72: Subfuga (Isub, Isub-S)
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.2.7 Subfuga (Isub, Isub-S) Figura 6.31: Menús de prueba de subfugas Resultados de la prueba / subresultados Isub ... Corriente de subfuga Isub-S ..Corriente de subfuga-S Parámetros de prueba Tipo de prueba Tipo [Isub, Isub-S, (Isub, Isub-S)] Tensión de salida... - Página 73 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.32: Medición de subfuga (SUB1, SUB2) Figura 6.33: Medición de subfuga (enchufe LN-PE) Figura 6.34: Medición de subfuga, subfuga-S (enchufe)
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Página 74: Fuga Diferencial
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Procedimiento de medición de subfuga Seleccione la función de subfuga. Establezca los parámetros/límites. Conecte las puntas de prueba a los bornes SUB1, SUB2 del instrumento, luego conecte las puntas de prueba al objeto a prueba, o ... - Página 75 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales primero la tensión de fase a la salida activa de la derecha de la toma de corriente de red de prueba y en segundo lugar a la izquierda. NO: La tensión de fase se aplica a la salida activa de la derecha de la toma de corriente de red.
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Página 76: Fuga Ipe
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales 6.2.9 Fuga Ipe Figura 6.39: Menú de prueba de fuga Ipe Resultados de la prueba / subresultados Ipe ..... Corriente de fuga de tierra P ....Potencia Parámetros de prueba Duración Duración [Off, 2 s ... 180 s] Cambio [SÍ, NO]... - Página 77 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Circuito de prueba Figura 6.40: Medición de la corriente de fuga Ipe Procedimiento de medición de fuga Ipe Seleccione la función de fuga Ipe. Establezca los parámetros/límites. Conecte el objeto a prueba al enchufe de red de prueba.
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Página 78: Fuga De Contacto
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Fuga de contacto 6.2.10 Figura 6.42: Menú de prueba de fuga de contacto Resultados de la prueba / subresultados Icon ... Corriente de fuga de contacto P ....Potencia Parámetros de prueba Duración Duración [Off, 2 s ... 180 s] Cambio [SÍ, NO]... - Página 79 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Circuito de prueba Figura 6.43: Medición de corriente de fuga de contacto Procedimiento de medición de fuga de contacto Seleccione la función de fuga de contacto. Establezca los parámetros/límites. Conecte el objeto a prueba al enchufe de red de prueba. Conecte las puntas de prueba al borne P/S del instrumento y al objeto a prueba.
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Página 80: Potencia
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Potencia 6.2.11 Figura 6.45: Menú de medición de potencia Resultados de la prueba / subresultados P ....Potencia activa S ....Potencia aparente Q ....Potencia reactiva PF ....Factor de potencia THDu ..Distorsión armónica total - tensión THDi .. -
Página 81: Fugas Y Potencia
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Procedimiento de medición de potencia Seleccione la función de potencia. Establezca los parámetros/límites. Conecte el objeto a prueba al enchufe de red de prueba. Inicie la medición La medición se puede parar manualmente o con el temporizador. - Página 82 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales SÍ: El instrumento mide la corriente de fuga en dos pasos secuenciales con un lapso de 5 s entre medias. Se aplica primero la tensión de fase a la salida activa de la derecha de la toma de corriente de red de prueba y en segundo lugar a la izquierda.
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Página 83: Tiempo De Descarga
MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Figura 6.50: Ejemplos de resultados de medición de potencia y fugas Tiempo de descarga 6.2.13 Figura 6.51: Menú de prueba de tiempo de descarga Resultados de la prueba / subresultados t ....tiempo de descarga Up .... - Página 84 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales El objeto a prueba está desconectado de la alimentación y la tensión en los Fase bornes de prueba comienza a caer. Una vez que la tensión rms cae a 10V, el instrumento inicia el temporizador.
- Página 85 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Seleccione la función de tiempo de descarga. Establezca los parámetros/límites. Conecte las puntas de prueba a los bornes de TIEMPO DE DESCARGA en el instrumento y en el objeto a prueba.
- Página 86 MI 3394 CE MultiTesterXA Pruebas individuales Procedimiento de prueba de tiempo de descarga (salida = enchufe) Seleccione la función de tiempo de descarga. Establezca los parámetros/límites. Conecte el objeto a prueba a la toma de red de prueba en el instrumento.
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Página 87: Pruebas Automáticas
Los resultados de una prueba automática se pueden almacenar en la memoria junto con toda la información relacionada. Las pruebas automáticas pueden ser preprogramadas en un PC con el software Metrel ES Manager y después cargadas en el instrumento. Se pueden cambiar / configurar en el instrumento los parámetros y límites de las pruebas individuales de una prueba automática. -
Página 88: Menú De Vista De Pruebas Automáticas
Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA Una prueba automática se divide en tres fases: Antes de comenzar la primera prueba se muestra el menú de pruebas automáticas (a menos que se iniciara directamente desde el menú principal de pruebas automáticas). -
Página 89: Indicación De Bucles
Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA Figura 7.3: Menú vista prueba automática – medición seleccionada Opciones Selecciona una prueba individual. Abre el menú para cambiar los parámetros y límites de las mediciones seleccionadas. Para más información sobre cómo cambiar los parámetros y los límites, consulte el capítulo 6.1.2 Ajuste de parámetros y límites... -
Página 90: Ejecución Paso A Paso De Las Pruebas Automáticas
Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA 7.2.2 Ejecución paso a paso de las pruebas automáticas Mientras la prueba automática está en ejecución, está controlada por comandos de flujo preprogramados. Ejemplos de acciones controladas por comandos de flujo: pausas durante la secuencia de prueba seguimiento de los pines de entrada control de lámparas, adaptadores de prueba y otros dispositivos externos... -
Página 91: Pantalla De Resultados De Las Pruebas Automáticas
Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA Abre las opciones en el panel de control / expande la columna. Las opciones ofrecidas en el panel de control dependen de la prueba individual seleccionada, su resultado y el flujo de prueba programado. - Página 92 Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA Opciones Inicia la prueba. Inicia una nueva prueba programada. Muestra los resultados de las mediciones individuales. El instrumento pasa al menú para ver detalles de la prueba automática, como se observa en la Error! Reference source not found..
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Página 93: Pantalla De Memorias De Pruebas Automáticas
Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA sobre Abre las opciones en el panel de control / expande la columna. Figura 7.7: Detalles del menú para ver los detalles de los resultados de la prueba automática. Figura 7.8: Detalles de una prueba individual en el menú de resultados de pruebas automáticas 7.2.4 Pantalla de memorias de pruebas automáticas... - Página 94 Pruebas automáticas MI 3394 CE MultiTesterXA Opciones Vuelva a realizar la prueba automática. Entra en el menú de una nueva prueba automática. Entra en el menú para ver los detalles de la prueba automática. Para más información, consulte el capítulo 7.2.3 Pantalla de resultados de las pruebas automáticas.
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Página 95: Mantenimiento
Para reparaciones bajo o fuera del periodo de garantía, por favor, póngase en contacto con su distribuidor para obtener información. La apertura del dispositivo CE MultiTesterXA no está permitida a personas no autorizadas. No hay componentes que puedan ser reemplazados por el usuario dentro del dispositivo. -
Página 96: Comunicaciones
El dispositivo está listo para comunicarse con el PC. El programa Metrel ES Manager funciona con Windows Vista, Windows 7, Windows 8, Windows 8.1 y Windows 10. 9.2 Comunicación Bluetooth El módulo interno Bluetooth permite una sencilla comunicación a través de Bluetooth con un PC y dispositivos Android. -
Página 97: Comunicación Ethernet
9.4 La comunicación RS232 con otros dispositivos externos Es posible conectarlo a escáneres e impresoras mediante el puerto en serie RS232-1. Póngase en contacto con Metrel o a su distribuidor para saber qué dispositivos externos y funciones son compatibles. 9.5 Conexiones para adaptadores de prueba 9.5.1 Conector de prueba TC1... -
Página 98: Entradas
MI 3394 CE MultiTesterXA Communicaciones Leyenda: Conexión de 4 pines de señal de medición (conector de seguridad) En paralelo al borne N en el enchufe de red de prueba En paralelo al borne L en el enchufe de red de prueba... - Página 99 MI 3394 CE MultiTesterXA Communicaciones Figura 9.3: Conector de salida - esquema de los pines Leyenda: Descripción Tipo NINGÚN relé, OUT_1 Salida de control 1 Umax: 24V, Imax: 1,5 A Salida inferior: contacto abierto OUT_2 Salida de control 2 Salida...
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Página 100: Especificaciones Técnicas
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA 10 Especificaciones técnicas 10.1 CA de AT, CA de AT programable Tensión c.a. Resolución Precisión Rango (3 % de lectura) 0 V... 1999 V (3 % de lectura) 2,00 kV... 5,99 kV 10 V Corriente a.c. -
Página 101: Continuidad
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Tiempo de disparo (si la corriente excede el límite superior) … < 30 ms Máx. carga capacitiva ........2 µF Bornes de prueba Función Conexiones Tensión de aguante (AT AT(~,+) ↔ AT(~,-) , AT CC-P 10.3 Continuidad... -
Página 102: Resistencia De Aislamiento, Resistencia De Aislamiento-S
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA 10.4 Resistencia de aislamiento, resistencia de aislamiento-S Resistencia de aislamiento, resistencia de aislamiento – S (250 V, 500 V, 1000 V) Resolución Precisión Rango (3 % de lectura + 2 dígitos) Riso 0,00 M... 19,99 M... -
Página 103: Corriente Diferencial De Fuga
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA 10.6 Corriente diferencial de fuga Corriente de diferencial de fuga Resolución Precisión Rango (3 % de lectura + 5 Idiff 0,00 mA... 19,99 mA 0,01 mA dígitos) Potencia (activa) Resolución Precisión Rango (5 % de lectura + 5 0 W... -
Página 104: Potencia
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Potencia (activa) Resolución Precisión Rango (5 % de lectura + 5 0 W... 999 W dígitos) 5 % de lectura 1,00 kW... 3,70 kW 10 W Rango operativo (de acuerdo a EN 61557-16) 0,12 mA ... 19,99 mA La respuesta de frecuencia del circuito de medición... -
Página 105: Fugas Y Potencia
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Tensión Resolución Precisión Rango (3 % de lectura + 10 0,0 V... 199,9 V 0,1 V dígitos) 3 % de lectura 200 V... 264 V Corriente Resolución Precisión Rango (3 % de lectura + 5 dígitos) 0,00 A... -
Página 106: Tiempo De Descarga
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Coseno Φ Resolución Precisión Rango Cos Phi 0,00i... 1,00i (5 % de lectura + 5 dígitos) 0,01 0,00c... 1,00c Tensión Resolución Precisión Rango (3 % de lectura + 10 0,0 V... 199,9 V 0,1 V dígitos) - Página 107 Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Umbral de tensión..........34 V, 60 V, 120 V Resistencia de entrada ........48 M Máx. corriente de carga (salida = enchufe)..10 A Desconexión automática en ULN si el objeto a prueba está conectado al enchufe de red de peak prueba.
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Página 108: Datos Generales
Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA 10.12 Datos generales Fuente de alimentación Tensión de alimentación, frecuencia....110 V / 230 V AC, 50 Hz / 60 Hz Tolerancia de tensión de alimentación..... 10 % Consumo de potencia máx......600 W (sin cargas en el enchufe de red de prueba) Consumo de potencia máx. - Página 109 Especificaciones técnicas MI 3394 CE MultiTesterXA Condiciones de referencia Rango de temp. de referencia: ......15 C ... 35 C Rango de humedad de referencia: ....35 % ... 65% DE HUMEDAD RELATIVA Condiciones de operación Rango de temperatura de trabajo: ....0 C ... +40 C Humedad relativa máxima: .......
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Página 110: Apéndice A - Elemento De Estructura En El Ce Multitesterxa
Apéndice A MI 3394 CE MultiTesterXA Apéndice A - Elemento de estructura en el CE MultiTesterXA Descripción Icono Nombre por defecto NODO Nodo PROYECTO Proyecto UBICACIÓN Ubicación Aparato (breve descripción) APARATO Aparato (descripción completa) APARATO DC... -
Página 111: Apéndice B - Notas Sobre Perfiles
Apéndice B MI 3394 CE MultiTesterXA Apéndice B - Notas sobre perfiles No hay notas de perfil específicas para el CE MultiTesterXA MI 3394. -
Página 112: Apéndice C - Lista Por Defecto De Pruebas Automáticas
Apéndice C MI 3394 CE MultiTesterXA Apéndice C - Lista defecto pruebas automáticas. Secuencias de pruebas automáticas preprogramadas Nº Descripción Nombre Esta prueba automática solo para demonstrar 1 DEMO_1 funcionamiento de la prueba automática. Esta prueba automática solo para demonstrar 2 DEMO_2 funcionamiento de la prueba automática. -
Página 113: Apéndice D - Programación De Pruebas Automáticas En El Metrel Es Manager
Para entrar en el área de trabajo del editor de pruebas automáticas, seleccione en la pestaña de inicio del SW de PC Metrel ES Manager. El área de trabajo de edición de pruebas automáticas se divide en 4 áreas principales. En la parte izquierda aparece la estructura del grupo seleccionado de pruebas automáticas. -
Página 114: Gestión De Grupos De Pruebas Automáticas
Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Figura D.2: Ejemplo de un cabecera de prueba automática Figura D.3: Ejemplo de un paso de medición Figura D.4: Ejemplo de un resultado de una prueba automática D.2 Gestión de grupos de pruebas automáticas Las pruebas automáticas pueden dividirse por el usuario en grupos definidos de distintas... - Página 115 Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Figura D.5: Organización en árbol de un grupo de pruebas automáticas Las posibles operaciones a realizar en un grupo de pruebas automáticas están disponibles en la barra del menú en la parte superior del área de trabajo Editor de pruebas automáticas.
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Página 116: Edición Del Nombre, Descrpción E Imagen De Una Prueba Automática
Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Arrastrando y soltando las pruebas automáticas o carpetas / subcarpetas seleccionadas se mueven a una nueva localización: La funcionalidad “Arrastrar y soltar” es equivalente a “cortar” y ARRASTRAR & “pegar” en un solo movimiento. -
Página 117: Pruebas Individuales
D.3.2 Pruebas individuales Las pruebas individuales son las mismas que en el menú de medición del Metrel ES Manager. Pueden establecer los límites y parámetros de las mediciones. No se puede establecer los resultados y subresultados. -
Página 118: Descripción De Los Comandos De Flujo
Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA comandos de flujo o pruebas individuales. Estableciendo un número de 1 a 20 en el campo Ajustar el número de repeticiones de los pasos de medición Haga clic derecho sobre el paso de medición seleccionado / comando de flujo Copiar –... - Página 119 Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Parámetros Cierra el contacto relé entre los pins de SALIDA 4 y 9 OUT_1 Cierra el contacto relé entre los pins de SALIDA 3 y 8 OUT_2 Cierra el contacto relé entre los pins de SALIDA 2 y 7 OUT_3 Cierra el contacto relé...
- Página 120 Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA La luz azul (OUT_3) se enciende cuando se ha pasado la prueba con éxito. La luz está encendida hasta que se inicie el siguiente paso. La luz amarilla (OUT_4) se enciende cuando ha fallado la prueba. La luz está encendida hasta que se inicie el siguiente paso.
- Página 121 Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Se añadirá un número de 4 dígitos al ID del aparato y Incremento: se incrementara cada vez que la misma prueba automática se lleve a cabo sucesivamente en bucle. Tipo de aparato Selecciona el tipo de aparato (Aparato, Aparato_FD)
- Página 122 Apéndice D MI 3394 CE MultiTesterXA Operación después del final de la prueba Este comando de flujo controla el procedimiento de la prueba automática en función de los resultados de las mediciones. Parámetros Operación después del final Se puede ajustar la operación individualmente para el caso de de la prueba un prueba superada, fallida o finalizada sin estado.