Tabla de contenido
Publicidad
MI 3394 CE MultiTesterXA
5.1.1 Estados de medición ................................................................................................ 34
5.1.2 Elementos de estructura........................................................................................... 35
Indicación de estado de medición en el elemento de estructura .................... 35
5.1.2.1
5.1.3 Selección de un área activa en el Organizador de memoria ................................... 36
5.1.4 Adicción de nodos en el Organizador de memoria .................................................. 37
ser creados o borrados libremente. ..................................................................................... 37
5.1.5 Operaciones en el menú de árbol ............................................................................ 38
Operaciones de mediciones (mediciones acabadas o vacías) ....................... 38
5.1.5.1
5.1.5.2
Operaciones de elementos de estructura ........................................................ 39
Ver / editar parámetros y adjuntos de un elemento de estructura .................. 40
5.1.5.3
5.1.5.4
Agregar un nuevo elemento de estructura. ..................................................... 41
Añadir una nueva medición ............................................................................. 42
5.1.5.5
5.1.5.6
Clonar un elemento de estructura. .................................................................. 43
Clonar una medición ........................................................................................ 45
5.1.5.7
5.1.5.8
Copiar y pegar un elemento de estructura ...................................................... 46
Copiar y pegar una medición ........................................................................... 47
5.1.5.9
5.1.5.10 Eliminar un elemento de estructura ................................................................. 48
5.1.5.11 Eliminar una medición ...................................................................................... 49
5.1.5.12 Cambiar el nombre un elemento de estructura ............................................... 50
6
Pruebas individuales ....................................................................................................... 51
Selección de pruebas individuales ............................................................................... 51
6.1
6.1.1 Pantallas de pruebas individuales ............................................................................ 52
6.1.2 Ajuste de parámetros y límites de pruebas individuales ......................................... 53
6.1.3 Pantalla de inicio de prueba individual ..................................................................... 54
6.1.4 Pantalla de prueba individual durante la prueba ..................................................... 55
6.1.5 Pantalla de resultados de prueba individual ............................................................ 55
6.1.6 Pantalla de memoria de pruebas individuales ......................................................... 57
6.1.7 Pantallas de ayuda ................................................................................................... 57
6.2
Mediciones de pruebas individuales ............................................................................ 58
6.2.1 Continuidad ............................................................................................................... 58
Compensación de la resistencia de los cables de prueba .............................. 60
6.2.1.1
6.2.2 CA de AT .................................................................................................................. 61
6.2.3 CC DE AT ................................................................................................................. 63
6.2.4 CA de AT programable ............................................................................................. 65
6.2.5 CC de AT programable............................................................................................. 67
6.2.6 Resistencia de aislamiento (Rais, Rais-S) ............................................................... 69
6.2.7 Subfuga (Isub, Isub-S) .............................................................................................. 72
6.2.8 Fuga diferencial ........................................................................................................ 74
6.2.9 Fuga Ipe .................................................................................................................... 76
6.2.10
Fuga de contacto .................................................................................................. 78
6.2.11
Potencia ................................................................................................................ 80
6.2.12
Fugas y potencia .................................................................................................. 81
6.2.13
Tiempo de descarga ............................................................................................. 83
Pruebas Automáticas ...................................................................................................... 87
7
Selección de pruebas automáticas .............................................................................. 87
7.1
Organización de pruebas automáticas......................................................................... 87
7.2
7.2.1 Menú de vista de pruebas automáticas ................................................................... 88
Menú de vista de prueba automática (cabecera seleccionada) ...................... 88
7.2.1.1
Menú de vista de prueba automática (cabecera seleccionada) ...................... 88
7.2.1.2
Indicación de bucles ......................................................................................... 89
7.2.1.3
7.2.2 Ejecución paso a paso de las pruebas automáticas................................................ 90
4
Índice
Publicidad
Tabla de contenido
