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donde
Δn = Diferencia de IR entre el eluyente y la solución de eluyente-muestra
φ = Ángulo de deflexión externo (en radianes)
θ = Ángulo de incidencia (en radianes)
Efecto de la refracción sobre la señal del fotodiodo
El cambio del ángulo de deflexión externo determina la desviación (Δx) del haz
de luz en el fotodiodo. Debido a que el detector utiliza un sistema óptico de
doble paso, el haz de luz pasa a través de la celda de flujo dos veces antes de
alcanzar el fotodiodo, lo que duplica el cambio de la imagen.
La relación entre la desviación de la imagen (Δx) en el fotodiodo del detector
del índice de refracción y el cambio en el valor de índice de refracción de la
solución se expresa del siguiente modo:
Δx = 2Y(tanθ) Δn
donde
Δx = Distancia del cambio de la imagen en el fotodiodo
Y = Distancia desde la celda de flujo hasta el fotodiodo
θ = Ángulo de incidencia
Δn = Diferencia de IR entre la solución de eluyente y de la muestra
El ángulo de incidencia y la distancia hasta el fotodiodo son elementos fijos en
el refractómetro, de manera que la ecuación queda del siguiente modo:
Δx = C Δn
donde
C = Constante que representa los valores fijos
Mediante la determinación de la distancia a la que cambia la imagen (Δx), el
refractómetro mide la diferencia de IR (Δn) entre la solución de
eluyente-muestra y el eluyente solo.
El cambio de la relación de la cantidad del haz de luz que incide sobre cada
elemento del fotodiodo de doble elemento produce un cambio en el voltaje de
salida del detector de índice de refracción. El sistema de tratamiento de datos
registra los cambios del voltaje de salida como picos en el cromatograma.
Principios de funcionamiento
715003547ES Versión 03
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