Casio CTK-4200 Guia Del Usuario página 95

CTK4200_WK220_02_s.fm 23 ページ ２０１１年４月２０日 水曜日 午後３時３９分
4.
Presione la tecla* a la cual desea asignar el
sonido de batería que está por muestrear.
Se ingresa en espera de muestreo.
El tiempo de muestreo admisible (en segundos)
aparecerá momentáneamente en la pantalla y luego
cambiará de la siguiente manera.
W a i t i n
Parpadea
* Los sonidos de la batería no se pueden asignar a estas
teclas (WK-220, WK-225).
C2
5.
La acción a realizar seguidamente depende del
modelo de teclado digital, como se describe a
continuación.
• CTK-4200:
Genere el sonido desde el dispositivo externo.
• WK-220, WK-225:
Genere el sonido en la dirección del micrófono.
El muestreo se iniciará automáticamente.
• Si el volumen del sonido es muy bajo, el muestreo no
se iniciará.
S a m
Parpadea
Para muestrear sonidos y ejecutarlos en el teclado digital
g
C7
l i n
p g
6.
Una vez que termine la muestra de sonido,
presione simultáneamente
S m
p
Memoria utilizada
(Unidad: Kbytes)
El muestreo será finalizado.
cr
• Aunque no presione y
interrumpirá automáticamente cada vez que deje de
ingresar el sonido desde el dispositivo externo o el
micrófono. El muestreo también se interrumpirá
automáticamente 10 segundos después de su inicio.
7.
Presione la tecla del teclado.
• Puede repetir los pasos 3 a 6 para cambiar otros sonidos
que conforman el ajuste de batería actualmente
seleccionado. Hay ocho sonidos por ajuste de batería.
• Es posible que no pueda efectuar un muestreo de 10
segundos, si la memoria del teclado digital no es suficiente
debido a otros datos almacenados. En tal caso, borre datos
innecesarios de la memoria para liberar espacio y para
poder efectuar un muestreo de 10 segundos. Si desea más
información, consulte "Para borrar un sonido muestreado"
en la página S-26.
• El muestreo de un sonido hará que se borren los datos
de sonido asignados actualmente a la misma tecla del
teclado. Para evitar el borrado accidental de datos
importantes, asegúrese de leer "Protección contra el
borrado accidental de los sonidos muestreados" en la
página S-26.
cr cs
y .
l D r m 1
Capacidad de
memoria restante
cs
, el muestreo se
S-23