Genel Ölçüm Uyarıları - Trotec BB 20 Manual De Instrucciones

Ocultar thumbs Ver también para BB 20:
Tabla de contenido

Publicidad

Idiomas disponibles
  • MX

Idiomas disponibles

  • MEXICANO, página 57
pürüzlü yüzeylerde ve yüksek hassasiyetli ölçümler
için uygundur . Birkaç kez bir ortalama değer ölçümü
yapılması önerilir . Bu sayede kalibrasyon esnasında
üst ve alt değerlerden meydana gelebilecek olan
sapmaların etkisini azaltılır . Kalibrasyon folyoları isteni-
len sırada kullanılabilir:
1. Önceki kısımda açıklandığı gibi sıfır noktası kalib-
rasyonunu uygulayın .
2. 1. folyoyla tek nokta kalibrasyonunu önceki kısımda
açıklandığı gibi uygulayın .
3 . 2 . adımı 2 . folyoyla tekrarlayın .
4 . Ölçülecek kaplamaya sensörü tutarak ölçümü
yapın ve bip sesi duyulduktan sonra sensörü tekrar
kaldırın . Ekranda ölçüm değeri görünür .
1. Sensörü birkaç kez numune parçasına
oturtun.
2. Folyo kalınlığı, yakl. olarak ölçüm nes-
nesinin tahmini kaplama kalınlığı kadar
olmalıdır.
3. Devam eden bir ölçüm serisi esnasında
folyo kalibrasyonu istenildiği kadar
yapılabilir. Eski kalibrasyonun üzerine
kayıt yapılır; sıfır kalibrasyonu, uy-
gulanana kadar bellekte kayıtlı kalır.
4. Ayrıntılı bilgileri tek nokta kalibrasyonları
bölümünde bulabilirsiniz
Bilyayla parlatılan yüzeyler
Bilyayla parlatılan yüzeylerin fiziksel doğasından dolayı
katman kalınlığı ölçümleri genelde yüksek olur . Pikler
üzerinden ortalama kalınlık şu şekilde belirlenebilir .
Yöntem A
1. Daha önce anlatıldığı gibi tek nokta ve iki nokta
kalibrasyonunun adımlarını uygulayın . Sonraki
ölçüm nesnesi ile aynı eğriliğe (yüzey eğriliği) ve
aynı taşıyıcı malzemeye sahip düz bir numune
parçası kullanın .
2. "Xo" ortalama değerini belirlemek için kaplan-
mamış, bilyalanmış numune parçasında yakl. 10
ölçüm yapın .
T
kullaniM kilaVuzu – katMan kalinliği ölçÜM cihazi BB 20
3. Bundan sonra "Xm" ortalama değerini belirlemek
için kaplanmış, bilyalanmış numune parçasında
yakl. 10 ölçüm daha yapın.
4. Her iki ortalama değerin farkı "Xeff" ortalama değer
katman kalınlığını verir. Her iki Xm ve Xo değerlerinin
en büyük standart sapması "s" ayrıca göz önünde
bulundurulmalıdır: Xeff = (Xm - Xo) ±S
Yöntem B
1. Kaplanmamış, bilyalanmış numune parçasında
10 ölçümlü bir sıfır kalibrasyonu yapın. Ardından
kaplanmamış zeminde bir folyo kalibrasyonu
yapın . Folyo seti, maksimum kalınlığı 50 mikron,
yakl . olarak farzedilen kalınlıkla aynı, farklı folyo-
lardan oluşmalıdır .
2 . Katman kalınlığı doğrudan ekrandan okunabilir ve
5 ila 10 tekli ölçüm yardımıyla belirlenebilir.
Yöntem C
İki folyolu iki nokta kalibrasyonundaki gibi hareket edin
(bakınız bölüm 4.2.3.). Yüzeyin özelliklerine mümkün
olduğunca yakınlaşmak için, folyo değeri birkaç 50
µm kalınlığında folyo kullanılarak ulaşılabilir . Ortala-
ma katman kalınlığı 5 ila 10 tekli ölçüm yardımıyla
belirlenmelidir . Burada istatistik fonksiyonu oldukça
yararlıdır .
300 µm'nin üzerindeki katman kalınlıklarında
pürüzlü bir yüzey önemsizdir . yukarıda bah-
si geçen kalibrasyon yöntemlerinin burada
uygulanmasına gerek yoktur .
Genel ölçüm uyarıları
Eğer kalibrasyon düzgün şekilde uygulanmışsa,
yapılması gereken tüm ölçümler garanti edilen ölçüm
toleransı dahilindedir . Kuvvetli elektrik alanlarının
olduğu jeneratör veya demiryollarının yakınında
meydana gelen manyetik alanlar ölçüm değerlerini
etkileyebilir . Ortalama değeri belirlemek için ista-
tistik programı kullanılırsa, sensörü birkaç kez tipik
bir ölçüm noktasına yerleştirmek yararlı olur . Hatalı
ölçüm değerleri menüde hemen silinebilir . Son değer
istatistik hesabından ve ölçüm değerinin garantili to-
lerans derecelerinden kaynaklanmaktadır .
I - 8

Publicidad

Tabla de contenido
loading

Tabla de contenido