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Resumen de contenidos para Hioki IM3536

  • Página 3: Tabla De Contenido

    Contenido Introducción ..........1 Realización de medi- Comprobación del contenido del pa- ciones en modo LCR quete ............1 Proceso de medición ........ 6 3.1 Configuración de los parámet- Información de seguridad ....... 10 ros de visualización ....... 39 Precauciones de funcionamiento ..12 „ Para realizar la medición de CC (medición de resistencia CC) ......40 Aspectos generales 3.2 Visualización de los valores medidos ..........
  • Página 4 Contenido Uso del modo de Guardar y cargar la medición continua condición de medición y datos del valor de 4.1 Ajuste de los paneles que se corrección desean utilizar en la medición continua .......... 93 6.1 Guardar valores de corrección y Realización de la medición con- condiciones de medición (fun- tinua ..........94 ción de guardado del panel) ..124 4.3 Comprobación de los resulta- 6.2 Cargar valores de corrección y dos de la medición continua ..94 condiciones de medición (fun- 4.4 Cambio del ajuste del tiempo ción de carga del panel) ....128 de visualización (cuando desea 6.3 Cambiar el nombre del panel ..
  • Página 5 Contenido „ Guarde todos los ajustes del instrumen- Especificaciones to, incluidos los paneles (función ALL SAVE) ............154 10.1 Especificaciones generales ..187 8.6 Cargar los ajustes del instru- 10.2 Especificaciones medioambien- mento ..........155 tales y de seguridad ..... 192 „ Cargar archivos de ajustes o panel ..155 10.3 Accesorios y opciones ....193 „...
  • Página 6 Contenido „ Cómo suministrar un voltaje de polar- ización de CC ........Apéndice7 „ Cómo suministrar una corriente de po- larización de CC ......Apéndice8 Apéndice 6 La función de pro- tección contra carga residual ....Apéndice9 Apéndice 7 Modo de circuito equivalente en serie y modo de circuito equivalente en para- lelo ..... Apéndice10 Apéndice 8 Corrección abierta y corrección de corto- circuito ....
  • Página 7: Introducción

    Introducción Introducción Gracias por adquirir el modelo de Hioki Medidor LCR IM3536. Para sacar el máximo rendimiento al instrumento, lea primero este manual y guárdelo cerca para consultarlo en un futuro. Audiencia de destino Este manual se ha escrito para que lo utilicen aquellos individuos que vayan a usar el producto en cuestión o vayan a enseñar a otros a hacerlo.
  • Página 8: Opciones (Referencia: Corrección De Estados Abiertos Y De Cortocircuito)

    Opciones (referencia: Corrección de estados abiertos y de cortocircuito) El instrumento dispone de las siguientes opciones. Póngase en contacto con su distribuidor o ven- dedor autorizado de Hioki al realizar el pedido. Tipo de sonda (largo del cable: 1 m)
  • Página 9 Comprobación del contenido del paquete Tipo de sonda (largo del cable: 1 m) Estado abierto durante co- Estado en cortocircuito du- rrección abierta rante corrección de cortocircuito Sonda tipo pinza L2001 Gradaciones en el accesorio de correc- ción abierta Cierre la punta de las pinzas. Coloque la punta de las pinzas en gradación de accesorio de corrección abierta (con el mismo...
  • Página 10: Tipos De Accesorio De Prueba

    Comprobación del contenido del paquete Tipos de accesorio de prueba Estado abierto durante co- Estado en cortocircuito du- rrección abierta rante corrección de cortocircuito Accesorio de prueba SMD 9263 Gire la perilla en sentido anti- Gire la perilla en sentido horario Rango medible: CC a 8 MHz horario para abrir los electrodos para ajustar los electrodos altos y...
  • Página 11: Unidad De Polarización De Cc

    Comprobación del contenido del paquete Tipos de accesorio de prueba Estado abierto durante co- Estado en cortocircuito du- rrección abierta rante corrección de cortocircuito Accesorio de prueba SMD IM9100 Retire la plantilla. Monte el accesorio de corrección Monte el accesorio de co- abierta para el 1005 en el área rrección de cortocircuito en el de medición de puntas de prueba...
  • Página 12: Proceso De Medición

    Proceso de medición Proceso de medición Esta sección utiliza la medición de CA de un capacitor cerámico laminado como ejemplo para brin- dar una descripción general de la funcionalidad del instrumento. Elementos a preparar: Accesorio de prueba SMD 9263, capacitor cerámico laminado que desee medir Inspeccione el instrumento antes de la medición.
  • Página 13 Proceso de medición Establezca el primer parámetro en Cs y el tercer parámetro en D. (p. 39) Ejemplo: Configure el primer parámetro para Cs Cuando desee realizar una medición de CC aparte de la medición de CA, configure el parámetro en Rdc.: “Para realizar la medición de CC (medición de resistencia CC)”...
  • Página 14 Proceso de medición • Para guardar las condiciones de medición internamente o cargar condiciones de medición anteriormente guardadas: “6 Guardar y cargar datos del valor de corrección y la condición de medición” (p. 123) • Para realizar la medición de CC (resistencia CC): “3.4 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos)”...
  • Página 15 Proceso de medición Controle los resultados de la medición. (p. 41) • Para ampliar la imagen del valor medido: p. 42 • Para cambiar la cantidad de dígitos utilizados para mos- trar los valores medidos: p. 88 • Cuando desee juzgar los resultados de la medición: Para realizar una medición del comparador (p.
  • Página 16: Información De Seguridad

    Información de seguridad Información de seguridad Este instrumento está diseñado conforme a las normas de seguridad IEC 61010 y se ha probado la seguridad de forma íntegra antes del envío. Sin embargo, si utiliza el instrumento de un modo no descrito en este manual, es posible que anule las características de seguridad proporcionadas.
  • Página 17: Símbolos Del Instrumento

    Información de seguridad Símbolos del instrumento Símbolos de distintas normas Indica precauciones y peligros. Indica la Directiva sobre residuos Cuando el símbolo esté impreso en de aparatos eléctricos y electróni- el instrumento, consulte el asunto cos (Directiva RAEE) en los esta- correspondiente en el Manual de dos miembros de la UE.
  • Página 18: Precauciones De Funcionamiento

    • Compruebe que el instrumento funciona con normalidad para garantizar que no se produjeron daños durante el almacenamiento o el transporte. Si encuentra algún daño, póngase en contacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki. Instalación de instrumento Entorno de instalación ADVERTENCIA La instalación del instrumento en ubicaciones inadecuadas puede dar lugar a un...
  • Página 19: Precauciones De Envío

    Precauciones de funcionamiento Precauciones de envío Hioki renuncia a cualquier responsabilidad relacionada con daños directos o indirectos que puedan producirse cuando es te instrumento se combine con otros dispositivos mediante un integrados de sistemas antes de la venta o cuando se revende.
  • Página 20: Manipulación De Cables, Accesorios Y Sondas

    USB del instrumento. Hacerlo puede generar la pérdida de los datos en la memoria USB. • Hioki no puede recuperar datos de medios de almacenamiento dañados o con fallas debido a anomalías. Tampoco podemos proporcionar compensaciones por dicha pérdida de datos, inde- pendientemente de los contenidos o la causa del fallo o el daño.
  • Página 21: Antes De Conectar Ext I/O

    • Guarde los discos en un estuche protector y no los exponga a la luz directa del sol, temperaturas altas o mucha humedad. • Hioki no se hace responsable de los problemas que pueda experimentar su computadora duran- te el uso de este disco.
  • Página 22 Precauciones de funcionamiento...
  • Página 23: Aspectos Generales Y Funciones

    1.1 Aspectos generales y características del pro- ducto El Medidor LCR IM3536 Hioki es un instrumento de medición de impedancia que logra niveles altos de velocidad y exactitud. Puede utilizarse en una gran variedad de aplicaciones gracias a su amplia gama de frecuencias de medición y su capacidad para configurar las condiciones de medición en función de los niveles de...
  • Página 24: Nombres Y Funciones De Las Piezas

    Nombres y funciones de las piezas 1.2 Nombres y funciones de las piezas Parte delantera LEDs de medición LEDs de indicación del Pantalla LCD resultado de la valoración Esta es una pantalla de panel táctil. Luces durante la medición. Pulse las teclas que aparecen en Indica los resultados de la valo- pantalla para operar el instrumento.
  • Página 25: Parte Trasera

    Nombres y funciones de las piezas Parte trasera Conector LAN Conector EXT I/O Le permite conectar el instrumento a dispositivos Le permite controlar el comienzo de la medición y capturar los resultados de la valoración mediante la conexión de una placa de E/S o PLC.(p. 162) externos con un cable LAN.
  • Página 26: Disposición De La Pantalla Y Funcionamiento

    Disposición de la pantalla y funcionamiento 1.3 Disposición de la pantalla y funcionamiento Este instrumento le permite utilizar un panel táctil para configurar y cambiar todas las condiciones de medición. Toque con cuidado una tecla en la pantalla para seleccionar el elemento o valor numérico configu- rado para esa tecla.
  • Página 27 Disposición de la pantalla y funcionamiento Modo LCR Esta pantalla se uti- liza para seleccionar el modo de medición (p. 24). Pantalla MODE Pantalla de medición Esta pantalla se uti- Esta pantalla se utiliza para ver los liza para configurar valores medidos y la información sobre los ajustes detalla- ajustes de la condición de medición.
  • Página 28: Visualización De Los Valores Medidos (Pantalla De Medición)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Visualización de los valores medidos (pantalla de medición) Esta es la primera pantalla que se muestra cuando se enciende el instrumento. Toque la tecla EXIT para volver desde otra pantalla a la pantalla de medición. Visualizar los elementos utilizados en modo LCR y modo de medición continua Indica el estado de uso de la memoria interna (p.
  • Página 29 Disposición de la pantalla y funcionamiento Pantalla de medición en modo LCR Indica el nombre del panel Valores medidos* cargado (p. 128). Muestra valores medidos para diversos parámetros. Teclas de paráme- Supervisión de valores tros Vac, Vdc: Voltaje entre los termina- Establecen qué...
  • Página 30: Seleccione El Modo De Medición (Pantalla Mode)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Seleccione el modo de medición (pantalla MODE) Esta pantalla se utiliza para seleccionar el modo de medición. Toque la tecla MODE. Seleccione el modo de medición. Muestra la pantalla de medición para el modo seleccionado. Modo LCR (p.
  • Página 31: Configurar Los Ajustes Detallados, Como Las Condiciones De Medición (Pantalla Set)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Configurar los ajustes detallados, como las condiciones de medición (pantalla SET) Esta pantalla se utiliza para configurar las condiciones de medición que desea cambiar y otros ajustes avanzados. Seleccione el modo de medición (p. 24) antes de configurar los ajustes avanzados. (Pantalla de ejemplo: Modo LCR) Para obtener más información sobre la pantalla de modo de medición continua (CONTINUOUS), consulte “4 Uso del modo de medición continua”...
  • Página 32: Comprobación De La Información De Configuración De La Condición De Medición

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Comprobación de la información de configuración de la condición de medición Puede controlar la información de configuración de la pantalla de medición en el modo LCR. Condiciones de medición actuales (Esta información no se muestra cuando utiliza la vista ampliada [p.
  • Página 33: Configuración De La Funcionalidad De Corrección (Pantalla Adj)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Puede mostrarse la siguiente información: Pantalla Descripción Comentarios FREQ Frecuencia de medición RANGE Rango de medición LOW Z Modo de exactitud alta de Z bajo Para CA y CC Configuración de sincronización de valoración J SYNC para el rango de medición SPEED...
  • Página 34: X84; Configuración De Las Interfaces Del In- Strumento, La Hora Y La Fecha Y El Control Del Sistema (Pantalla Sys)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Configuración de las interfaces del instrumento, la hora y la fecha y el control del sistema (pantalla SYS) Esta pantalla se utiliza para configurar las interfaces del instrumento, establecer la hora y la fecha y controlar el sistema.
  • Página 35: Vos En La Memoria Usb (Pantalla File)

    Disposición de la pantalla y funcionamiento Visualización y manipulación de archivos en la memoria USB (pantalla FILE) Esta pantalla se utiliza para ver archivos guardados en la memoria USB y para configurar y editar los ajustes relacionados con el archivo. Se muestra después de que se coloca la memoria USB en el receptáculo del instrumento.
  • Página 36 Disposición de la pantalla y funcionamiento...
  • Página 37: Preparaciones De Medición

    (1) Instalación del instrumento (p. 12) (2) Conexión del cable de alimentación (p. 34) (3) Conecte los cables de medición, las sondas opcionales de Hioki o el accesorio de prue- ba en los conectores de medición (p. 35) Verifique que se haya apagado el interruptor de energía del instrumento.
  • Página 38: Proceso De Ajuste Del Instrumento

    Diagrama de flujo de preparación (6) Proceso de ajuste del instrumento • Primero, configure la hora y la fecha (p. 38). • Cuando mida la resistencia CC, asegúrese de configurar la frecuencia de línea antes de realizar la medición (p. 54). Después de dejar que el instrumento se caliente durante, al menos, 60 minutos, realice la correc- ción abierta y la de cortocircuito y conecte el instrumento en la muestra (p.
  • Página 39: Inspección Antes Del Funcionamiento

    Antes de utilizar el instrumento, compruebe que funciona con normalidad para garantizar que no se produjeron daños durante el almacenamiento o el transporte. Si encuentra algún daño, pón- gase en contacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki. Inspección del dispositivo periférico...
  • Página 40: Conexión Del Cable De Alimentación

    Conexión del cable de alimentación 2.3 Conexión del cable de alimentación Asegúrese de leer “Antes de encender la alimentación” (p. 13) y “Manipulación de cables, acce- sorios y sondas” (p. 14) antes de conectar el cable de alimentación. Conecte el cable de alimentación en la entrada de alimentación del instrumento y conecte el instru- mento a un tomacorriente.
  • Página 41: Conexión De Los Cables De Medición, Las Sondas O El Accesorio

    (Asegúrese de que no haya un blindaje conectado al alambre central). • En general, las piezas opcionales de Hioki (p. 2) deben utilizarse para los accesorios y cables de medi- ción. Si utilice una sonda propia, es posible que no cumpla con las especificaciones del instrumento.
  • Página 42: Encendido Y Apagado De La Alimentación

    Antes de prender el instrumento, asegúrese de haber leído “Antes de encender la alimentación” (p. 13). Una vez que conecte los cables de medición, las sondas opcionales de Hioki o el accesorio de prueba, encienda el interruptor de energía principal del instrumento. Una vez que el interruptor de energía principal se encienda, el instrumento podrá...
  • Página 43: Prender La Alimentación Principal

    Encendido y apagado de la alimentación Prender la alimentación principal Colocar el instrumento en estado de suspensión Encienda el interruptor de energía principal Active la energía principal en el estado y (I). mantenga oprimida la tecla delantera en modo de espera durante unos 2 segundos. 2 segundos Se activará...
  • Página 44: Ajuste De La Fecha Y La Hora

    Ajuste de la fecha y la hora 2.6 Ajuste de la fecha y la hora Defina la fecha y la hora del instrumento. Los datos se registran y administran en función de la fecha y la hora establecidas. Pulse la tecla SYS. Pulse la tecla para aceptar la confi- guración.
  • Página 45: Realización De Mediciones En Modo Lcr

    Configuración de los parámetros de visualización Realización de mediciones en modo LCR El modo LCR le permite medir la impedancia, el ángulo de fase y otros elementos mediante la apli- cación de una señal de frecuencia o de nivel (valor efectivo) en el elemento que desea medir. Esta función es ideal para evaluar el elemento pasivo de un capacitor, una bobina o un elemento similar.
  • Página 46: Parámetros

    Configuración de los parámetros de visualización Parámetros Están disponibles los siguientes parámetros. Parámetros Descripción Parámetros Descripción Capacitancia (F) Ω Impedancia ( (capacitancia de serie equivalente) Capacitancia (F) Admitancia (S) (capacitancia paralela equivalente) θ Ángulo de fase de impedancia (°) Factor Q Ω...
  • Página 47: Visualización De Los Valores Medidos

    Visualización de los valores medidos 3.2 Visualización de los valores medidos Los valores medidos para cada parámetro se muestran al lado de la tecla de parámetro correspon- diente. Los valores medidos que se muestran en la captura de pantalla a continuación indican lo siguiente: Ω...
  • Página 48: Ampliación De La Visualización De Valores De Medición

    Ampliación de la visualización de valores de medición 3.3 Ampliación de la visualización de valores de medición Los valores de medición y los resultados de valoración del comparador pueden mostrarse en una vista ampliada. Esta funcionalidad proporciona una forma cómoda de ver con mayor facilidad los valores medidos. Toque la tecla ZOOM.
  • Página 49: Configuración De Las Condiciones De Medición (Ajustes Básicos)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) 3.4 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) (Existen dos tipos de medición: Medición de CA y medición de CC (p.  4 0). Las condiciones de medición definidas para la medición de CA y de CC son distintas. Obligatorias: Deben configurarse.
  • Página 50: X84; Configuración Requerida

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Consulte la notación “CA”, “CC”, “CA/CC” y “Común” al lado de los ajustes. (CA) Definir cuando se realice la medición de CA. (CC) Definir cuando se realice la medición de CC. • Definir cuando se realice la medición de CA o CC. Configure en la pantalla de la pestaña BASIC para la medición de CA y en...
  • Página 51: Rango De Medición (Ca/Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Rango de medición (CA/CC) Estos son los tres métodos para configurar el rango de medición. El rango de prueba más adecuado se configura automáticamente. (Esta configuración es útil cuando se mide una muestra cuya impedancia varía AUTO (p. ...
  • Página 52: Ajuste De Rango Auto

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ajuste de rango AUTO Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4).: Medición de CA: (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña BASIC>Tecla RANGE Medición de CC: (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña Rdc>Tecla RANGE Toque la tecla AUTO.
  • Página 53 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ajustar la variación en HOLD Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4).: Medición de CA: (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña BASIC>Tecla RANGE Medición de CC: (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña Rdc>Tecla RANGE Toque la tecla HOLD...
  • Página 54: Ajuste De La Sincronización De Valoración

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ajuste de la sincronización de valoración Cuando el ajuste de JUDGE SYNC está activado, el instrumento seleccionará el rango óptimo de forma automática en función del estándar de valoración de la medición del comparador o BIN. (Consulte “Valoración de los resultados de medición”...
  • Página 55: Nivel De Señal De Medición (Ca)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) (2) Medición de CC Parámetro n.º 3 ×  ×: Ajuste no válido (mismo funcionamiento que con la configuración AUTO),   : Configurable Nivel de señal de medición (CA) Define el nivel de señal de medición para aplicar a la muestra. El nivel de señal de medición aplicado a la muestra puede configurarse con estos tres modos: (Consulte “Acerca del modo de señal de medición”...
  • Página 56 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Seleccione el modo de señal de medi- Modo de señal Rango ajustable ción. de medición De 4 Hz a 1,0000 MHz: De 0,010 V a 5,000 V V, CV De 1,0001 MHz a 8 MHz: De 0,010 V a 1,000 V De 4 Hz a 1,0000 MHz: De 0,01 mA a 50,00 mA...
  • Página 57 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Para configurar el rango y la exactitud Configuración del modo de voltaje de circuito abierto (V) y el modo de voltaje constante (CV) Funcionamiento nor- Cuando el modo de exactitud alta de Z bajo (p. ...
  • Página 58: Configuración Del Modo De Corriente Constante ('CC')

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Configuración del modo de corriente constante ('CC') El modo de exactitud alta de Z El modo de exactitud alta de Z bajo (p.  5 6) se configura en bajo (p.  5 6) se configura en ON Rango de configuración de la co- De 0,01 mA a 50,00 mA De 0,01 mA a 100,00 mA...
  • Página 59 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Acerca del modo de señal de medición La relación entre el modo de señal de medición del instrumento y la muestra es la siguiente. Modo de voltaje (V) de circuito abierto Este valor de voltaje es el valor que se aplica en los dos terminales de la combinación en serie del objeto que se analiza y la impedancia de salida.
  • Página 60: Frecuencia De Línea (Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Frecuencia de línea (CC) Al realizar la medición de CC, asegúrese de definir la frecuencia de línea del suministro de energía que se utilice. Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4).: (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña Rdc>Tecla LINE FREQ Seleccione la frecuencia de la línea.
  • Página 61: X84; Ajustes Configurables Por El Usuario

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ajustes configurables por el usuario Velocidad de medición (CA/CC) La velocidad de medición puede configurarse. Cuanto más lenta sea la velocidad de medición, más precisos serán los resultados. Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4).: Medición de CA (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña BASIC>Tecla SPEED Medición de CC (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña Rdc>Tecla...
  • Página 62: Modo De Exactitud Alta De Z Bajo (Medición De Precisión Alta) (Ca/Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Modo de exactitud alta de Z bajo (medición de precisión alta) (CA/CC) Ω Habilitar el modo de exactitud alta de Z bajo cambiará la resistencia de salida a 10 , lo que habi- lita a su vez la medición de precisión alta al permitir que fluya una cantidad adecuada de corriente hacia la muestra de medición.
  • Página 63 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Promedio (limita la inestabilidad del valor de visualización) (CA/CC) Con la función de promedio, los valores medidos pueden promediarse. Esta función puede utilizar- se para limitar la inestabilidad de los valores medidos visualizados. Medición de CA Un promedio móvil de los valores probados en una cantidad establecida de veces para el promedio siempre se calcula hacia atrás desde el pre-...
  • Página 64 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ejemplo: Si la cantidad de iteraciones de promedio se define en 4 (recuento de medición, puntos de salida del valor medido y método para calcular los valores medidos en la salida) (1) Promedio móvil Puntos de medición M1+M2 M1+M2+M3...
  • Página 65 Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Límite (limita el voltaje y la corriente aplicados a la muestra) (CA) De acuerdo con el nivel de señal de medición, en algunos casos es posible dañar la muestra que se mide al aplicarle un voltaje o una corriente superior que su valor nominal. (Consulte “Funcionamiento en modo de voltaje constante (CV)”...
  • Página 66: Polarización De Cc (Superpone Un Voltaje Cc En La Señal De Medición) (Ca)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Cuando la función de límite se configura en ON, puede aparecer una pantalla como la siguiente. (Ejemplo: Con la configuración de voltaje constante [CV]) ERR: Si el voltaje o la corriente que se aplica a LMT: Cuando se aplica a la muestra un nivel de señal inferior que el configurado debido a la con- la muestra de prueba supera el valor de límite (la...
  • Página 67: Ajuste De Cc (Reduce El Error De Medición) (Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Ajuste de CC (reduce el error de medición) (CC) Al habilitar la función de ajuste de CC, el instrumento define el voltaje generado en 0 V y adquiere el valor de compensación generado por sus circuitos internos para reducir el error de medición. (Configuración predeterminada: Activado) Deshabilitar la función de ajuste de CC permite realizar una medición de resistencia CC de alta velocidad, ya que el valor de compensación no se adquiere antes de que se realice cada medición.
  • Página 68: Retardo De Cc (Configura El Tiempo De Retardo De La Medición De Cc) (Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) • La medición cambia entre 1 V y 0 V para adquirir el valor de compensación. Configure el retardo de CC (p.  6 2) y el retardo del ajuste (p.  6 3) para que la inductancia de la muestra de medición no afecte los valores medidos.
  • Página 69: Retardo De Ajuste (Configura El Tiempo De Retardo De La Medición De Compensación) (Cc)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Retardo de ajuste (configura el tiempo de retardo de la medición de compensación) (CC) Este tiempo de retardo se utiliza para demorar la medición hasta que se estabilice la medición de compensación (0 V CC). Para obtener más información sobre el tiempo de retardo de ajuste, consulte las figuras en “Tiempo de medición y adquisición de datos”...
  • Página 70: Retardo Del Activador (Coloca Un Retardo Entre El Activador Y La Medición) (Común)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Método de entrada de activador externo Hay tres tipos de métodos de entrada para el activador. • Tocar la tecla TRIG en la pantalla para aplicar manualmente el activador hace que el instrumento realice una medición.
  • Página 71: Salida Sincrónica Del Activador (Aplica La Señal A La Muestra Solo Durante La Medición) (Común)

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Salida sincrónica del activador (aplica la señal a la muestra solo durante la medi- ción) (común) Después de generar la salida de la señal de medición en la entrada del activador, aplica la señal a la muestra solo durante la medición.
  • Página 72: X84; Tiempo De Medición Y Adquisición De Datos

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Tiempo de medición y adquisición de datos El tiempo de medición y adquisición de datos varía con las siguientes configuraciones: Salida sincrónica del activador (p.  6 5), Retardo del activador (p.  6 4), Retardo sincrónico del activador (p. ...
  • Página 73: Cuando La Función De Sincronización Del Activador Está Desactivada

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Cuando la función de sincronización del activador está desactivada Señal del activador Retardo del activador Adquisición de datos Medición de CA (sincronización del activador desactivada) Retardo del Retardo de Tiempo de cambio activador ajuste 1,5 ms...
  • Página 74: Conductividad

    Configuración de las condiciones de medición (ajustes básicos) Cuando se miden la conductividad y la permitividad Defina los parámetros en (conductividad) y (permitividad) (p.  3 9) y las condiciones utilizadas para σ ε calcular la conductividad y la permitividad. Conductividad Valor que indica la facilidad con la que una sustancia conduce la electricidad Valor que indica la facilidad con la que puede formarse un campo eléctrico Permitividad...
  • Página 75: Valoración De Los Resultados De Medición

    Valoración de los resultados de medición 3.5 Valoración de los resultados de medición Los resultados de medición se comparan con una referencia definida de forma arbitraria y, luego, se muestran los resultados de la valoración. Esta función es útil para la evaluación de calidad y elementos similares. Hay una medición de comparador que compara una referencia de valoración con los valores de medición, y una medición de BIN que compara diversos valores de referencia de valoración (hasta 10) con los valores de medición.
  • Página 76: X84; Configuración Del Modo De Valoración

    Valoración de los resultados de medición Configuración del modo de valoración Seleccione un modo de valoración como se describe a continuación y configure los ajustes. Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4): (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña ADVANCED>Tecla JUDGE Seleccione el modo de valoración.
  • Página 77 Valoración de los resultados de medición El modo de decisión de comparador puede configurarse como una de las siguientes opciones: Configuración de valor absoluto (ABS) (p.  7 2) Defina los valores absolutos para el límite superior y el Valor de límite superior inferior de los parámetros de medición.
  • Página 78: Configuración Del Valor Absoluto

    Valoración de los resultados de medición Configuración del valor absoluto Defina el valor después de configurar el modo de valoración (p.  7 0) en COMP. Esta explicación utiliza el ejemplo de definir las condiciones de medición para el parámetro n.º 1. Toque la tecla en la pantalla de Toque la tecla...
  • Página 79 Valoración de los resultados de medición Configuración del porcentaje y configuración del porcentaje de desvío Defina el valor después de configurar el modo de valoración (p.  7 0) en COMP. Esta explicación utiliza el ejemplo de definir las condiciones de medición para el parámetro n.º 1. Toque la tecla en la pantalla de Toque la tecla...
  • Página 80 Valoración de los resultados de medición Configuración del porcentaje • El funcionamiento real que se lleve a cabo de forma interna implica calcular el valor de comparación del límite superior (o el valor de comparación del límite inferior) con la siguiente fórmula y, luego, compararlo con el valor medido para generar una valoración.
  • Página 81: X84; Configurar Los Ajustes De Función De Bin (Valoración De Los Valores De Medición En Función De Diversos Estándares De Valoración)

    Valoración de los resultados de medición Configurar los ajustes de función de BIN (valoración de los valores de medición en función de diversos estándares de valoración) Defina los valores de límite superior e inferior para los dos parámetros y observará hasta 10 clasificaciones de resultados de valoración.
  • Página 82 Valoración de los resultados de medición El modo de decisión de BIN puede configurarse como una de las siguientes opciones: Configuración de valor absoluto (ABS) (p.  7 7) Defina los valores absolutos para el límite superior y el Valor de límite superior inferior de los parámetros de medición.
  • Página 83 Valoración de los resultados de medición Configuración del valor absoluto Defina el valor después de configurar el modo de valoración (p.  7 0) en BIN. Toque la tecla en la pantalla de medición. Toque la tecla para el parámetro n.º 1. Parámetro n.º...
  • Página 84: Configuración Del Porcentaje Y Configuración Del Porcentaje De Desvío

    Valoración de los resultados de medición Configuración del porcentaje y configuración del porcentaje de desvío Defina el valor después de configurar el modo de valoración (p.  7 0) en BIN. Toque la tecla en la pantalla de medición. Toque la tecla ENTER para confirmar el valor de referencia.
  • Página 85 Valoración de los resultados de medición Ingrese el valor de límite superior con el teclado numérico. Rango configurable: -999,999% a 999,999% Cuando no desee definir los valores de lí- mite inferior y superior, toque la tecla OFF. Toque la tecla ENTER para confirmar el valor de límite superior.
  • Página 86: Configuración De Los Ajustes De Aplicación

    Configuración de los ajustes de aplicación 3.6 Configuración de los ajustes de aplicación Sincronización del rango (configura las condiciones de medición para los rangos de medición individuales) Esta sección describe cómo definir las condiciones de medición para los rangos de medición indivi- duales.
  • Página 87 Configuración de los ajustes de aplicación (2) Configuración de las condiciones de medición en los cuadros de diálogo individuales Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4): Medición de CA: (Pantalla SET) Pestaña BASIC>Tecla LIST Medición de CC: (Pantalla SET) Pestaña >Tecla LIST...
  • Página 88: Seleccione El Rango De Medición Que Desee Configurar Con La Tecla

    Configuración de los ajustes de aplicación (3) Configuración de las condiciones de medición en una sola pantalla Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4): Medición de CA: (Pantalla SET) Pestaña BASIC>Tecla LIST Medición de CC: (Pantalla SET) Pestaña >Tecla LIST Seleccione el rango de medición que...
  • Página 89: X84; Función De Promedio De La Forma De Onda (Aumenta La Precisión O Velocidad De Medición)

    Configuración de los ajustes de aplicación Función de promedio de la forma de onda (aumenta la precisión o ve- locidad de medición) La cantidad de formas de onda de medición para cada banda de frecuencia se define para los ajustes de velocidad de la medición (FAST, MED, SLOW, SLOW2), y esta función le permite defi- nir la cantidad de formas de onda de medición para cada banda de frecuencia.
  • Página 90 Configuración de los ajustes de aplicación N.º Banda de frecuencia Rango ajustable CC (frecuencia de línea de 50 Hz) De 1 a 2000 El recuento de la forma de onda de CC (frecuencia de línea de 60 Hz) De 1 a 2400 la medición de CC realiza un pro- medio de forma de onda con 1/100 De 4,00 Hz a 10,00 Hz...
  • Página 91: X84; Función De Rechazo De Z Alto (De- Tecta Errores De Contacto Durante Una Medición De 2 Terminales)

    Configuración de los ajustes de aplicación Función de rechazo de Z alto (detecta errores de contacto durante una medición de 2 terminales) Esta funcionalidad genera un error cuando los resultados de medición superan un estándar de valoración definido, lo que permite detectar un contacto deficiente cuando se utiliza un accesorio de 2 terminales para realizar la medición.
  • Página 92: X84; Función De Verificación De Contacto (Detecta Un Contacto Deficiente Con La Muestra Durante La Medición De 4 Termi- Nales)

    Configuración de los ajustes de aplicación Función de verificación de contacto (detecta un contacto deficiente con la muestra durante la medición de 4 terminales) Esta funcionalidad le permite detectar defectos de contacto entre los terminales (H ) y la muestra durante la medición de 4 terminales. Defina la resistencia de contacto entre L y entre H .
  • Página 93: X84; Función De Memoria (Guarda Los Resul- Tados De Medición)

    Configuración de los ajustes de aplicación Función de memoria (guarda los resultados de medición) Puede guardar los resultados de medición dentro del instrumento (hasta 32 000 elementos). Esta función le permite guardar los resultados de medición anteriormente guardados en la memoria :MEMory? USB y adquirirlos desde una computadora con el comando de comunicación Cuando utilice comandos de comunicación, la información guardada en la memoria muestra...
  • Página 94: X84; Cantidad De Dígitos Efectivos Del Valor De Medición

    Configuración de los ajustes de aplicación • Si la función de memoria está habilitada o IN), se muestra en la pantalla de medición la cantidad de elementos en la memoria guardados. Indica que la cantidad de elementos guardados en la memoria es 2929. •...
  • Página 95: X84; Apagado Automático De La Pantalla Lcd (Modo De Ahorro De Energía)

    Configuración de los ajustes de aplicación Apagado automático de la pantalla LCD (modo de ahorro de energía) Puede configurar que la pantalla LCD permanezca encendida continuamente o se apague auto- máticamente. Configurar la pantalla LCD en hace que la pantalla LCD se apague automáti- camente después de que no se haya utilizado la pantalla durante 10 segundos y, por ende, reduce el consumo de energía.
  • Página 96: X84; Tonos De Teclas Y De Valoración

    Configuración de los ajustes de aplicación Tonos de teclas y de valoración Puede configurar el sonido de funcionamiento y cada pitido para los resultados de valoración. Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.  2 4): (Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña ADVANCED>Tecla BEEP Configurar los pitidos.
  • Página 97: X84; Función De Bloqueo De Teclas (Desh- Abilita El Funcionamiento De Teclas)

    Configuración de los ajustes de aplicación Función de bloqueo de teclas (deshabilita el funcionamiento de teclas) Cuando la función de bloqueo de teclas está habilitada, todos los cambios en la configuración, excepto la cancelación del bloqueo de teclas, se deshabilitan para proteger la configuración. También puede definir un código de acceso (código de seguridad).
  • Página 98: Deshabilitar El Bloqueo De Teclas

    Configuración de los ajustes de aplicación Deshabilitar el bloqueo de teclas Toque la tecla UNLOCK cuando el blo- Cuando desee cancelar la desactivación queo de teclas esté habilitado. del bloqueo de teclas, toque la tecla CAN- CEL. Si se muestra el siguiente error, verifique estos elementos.
  • Página 99: Uso Del Modo De Medición Continua

    Ajuste de los paneles que se desean utilizar en la medición continua Uso del modo de medición con- tinua En el modo de medición continua, se cargan en orden una serie de condiciones de medición guar- dadas mediante la función de guardado del panel (p. 124) y la medición se realiza de forma continua utilizando diversos conjuntos de condiciones distintos.
  • Página 100: Realización De La Medición Continua

    Realización de la medición continua 4.2 Realización de la medición continua Realice la medición continua. En la pantalla de medición, se mostrará Para cancelar la medición continua, toque una lista de los paneles seleccionados la tecla STOP. para los que se usará la medición continua en la pantalla (pestaña BASIC).
  • Página 101: Cambio Del Ajuste Del Tiempo De Visualización (Cuando Desea Reducir El Intervalo De Actual- Ización De La Pantalla)

    Cambio del ajuste del tiempo de visualización (cuando desea reducir el intervalo de actualización de la pantalla) 4.4 Cambio del ajuste del tiempo de visualización (cuando desea reducir el intervalo de actualiza- ción de la pantalla) Puede configurar el tiempo de visualización como desee durante la medición continua. Si el tiempo de visualización se configura en REAL, el tiempo de la medición continua se prolonga, ya que la pantalla se actualiza cada vez que se realiza una medición.
  • Página 102: Configuración Del Apagado Automático De La Pantalla Lcd (Cuando Desea Ahorrar Energía)

    Configuración del apagado automático de la pantalla LCD (cuando desea ahorrar energía) 4.5 Configuración del apagado automático de la pantalla LCD (cuando desea ahorrar energía) Puede configurar que la pantalla LCD permanezca encendida continuamente o se apague auto- máticamente. Configurar la pantalla LCD en hace que la pantalla LCD se apague automáti- camente después de que no se haya utilizado la pantalla durante 10 segundos y, por ende, reduce el consumo de energía.
  • Página 103: Corrección De Errores

    Corrección de errores Los cables de medición, las sondas y los accesorios tienen impedancia residual y desvío de admi- tancia. Debido a que estas características influyen en los valores medidos, la exactitud de la medi- ción puede mejorarse si se los corrige. Primero, coloque el modo de medición en modo LCR (p.
  • Página 104: Ajuste Del Largo Del Cable (Corrección Del Largo Del Cable)

    Ajuste del largo del cable (corrección del largo del cable) 5.1 Ajuste del largo del cable (corrección del largo del cable) Con la medición de frecuencia alta, la influencia del cable genera errores de medición grandes. Ajustar el largo del cable le permite reducir los errores de medición. Utilice un cable coaxial con Ω...
  • Página 105: Corrección Abierta

    (p. 35). Ajuste la distancia entre los terminales HI y LO del cable de medición o el accesorio o la sonda opcional Hioki de acuerdo con el ancho de la muestra de medición y colóquelos en estado abierto (Lo que constituye el estado abierto varía con el cable de medición, la sonda o el accesorio que se...
  • Página 106: Corrección De Todo (All)

    Corrección abierta Corrección de todo (ALL) Simultáneamente adquiere los valores de corrección abierta para todas las frecuencias de medición. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla OPEN Toque la tecla ADJUST. Comenzará...
  • Página 107 Corrección abierta Función de limitación del rango de corrección (para reducir el tiempo de corrección) En corrección ALL, se realiza la corrección para todo el rango de frecuencias. Al configurar las frecuencias de corrección máximas y mínimas con esta función, puede reducir el tiempo necesa- rio para realizar el proceso de corrección.
  • Página 108 Corrección abierta Toque la tecla SET. Regresará a la pantalla ADJ>OPEN. • Si la frecuencia de corrección máxima es inferior que la frecuencia de corrección mí- nima, las frecuencias de corrección máxima y mínima cambiarán automáticamente. • Si se utiliza la configuración predeterminada, el instrumento mostrará...
  • Página 109: Corrección Específica (Spot)

    Corrección abierta Corrección específica (SPOT) Adquiere los valores de corrección en las frecuencias de medición definidas. Las frecuencias de medición pueden configurarse hasta cinco puntos. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla OPEN Toque la tecla ADJUST.
  • Página 110 Corrección abierta Toque la tecla EXEC. Aparecerá la siguiente pantalla cuando la corrección se complete normalmente. Si nunca se ha realizado la corrección, los valores de corrección se convierten en 0. Resultados de corrección (Conductancia, susceptancia) Toque cuando desee cancelar la corrección. (La visualización regresará...
  • Página 111: Corrección De Cortocircuito

    Corrección de cortocircuito 5.3 Corrección de cortocircuito Con la corrección de cortocircuito, puede reducir la influencia de la impedancia residual de los ca- bles de medición y, en consecuencia, mejorar la exactitud de la medición. Es efectivo para medir muestras con una impedancia relativamente baja. Estos son los tres métodos para configurar la medición abierta.
  • Página 112: X84; Todas Las Correcciones

    Corrección de cortocircuito Corrección de todo (ALL) Simultáneamente adquiere los valores de corrección de cortocircuito para todas las frecuencias de medición. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla SHORT Toque la tecla ADJUST.
  • Página 113: X84; Corrección Definida

    Corrección de cortocircuito Corrección específica (SPOT) Adquiere los valores de corrección en las frecuencias de medición definidas. Las frecuencias de medición pueden configurarse hasta cinco puntos. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla SHORT Toque la tecla ADJUST.
  • Página 114 Corrección de cortocircuito Toque la tecla EXEC. Aparecerá la siguiente pantalla cuando la corrección se complete normalmente. Si nunca se ha realizado la corrección, los valores de corrección se convierten en 0. Resultados de corrección (Reactancia, resistencia efectiva) Toque cuando desee cancelar la corrección. (La visualización regresará...
  • Página 115: Si La Corrección Abierta O De Cortocircuito No Se Completa Normalmente

    Si la corrección abierta o de cortocircuito no se completa normalmente 5.4 Si la corrección abierta o de cortocircuito no se completa normalmente Aparecerá una ventana como la siguiente. (1) Cuando la corrección falla Aparecerá una ventana como la siguiente. Si se muestra esta ventana y la corrección se cance- la (si toca la tecla EXIT), el instrumento volverá...
  • Página 116: Completado

    Si la corrección abierta o de cortocircuito no se completa normalmente (2) Aparecerá una ventana como la siguiente si el ajuste del largo del cable no coincide con el largo del cable conectado (solo durante la corrección abierta). Aparecerá una ventana como la siguiente. Ajustado Completado Para cambiar el ajuste del largo del cable,...
  • Página 117: Deshabilitar Los Valores De Corrección Abierta Y De Cortocircuito

    Deshabilitar los valores de corrección abierta y de cortocircuito 5.5 Deshabilitar los valores de corrección abierta y de cortocircuito Deshabilitar el ajuste de corrección deshabilitará los valores de corrección que haya adquirido. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): Para deshabilitar la corrección abierta: (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla OPEN...
  • Página 118: Corrección De Carga (Corrección De Valores Para Que Coincidan Con Los Valores De Referencia)

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) 5.6 Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Esta sección describe cómo corregir los valores medidos en función de una muestra de referencia. Se mide una muestra con un valor medido conocido.
  • Página 119: X84; Procedimientos Para La Corrección De Carga

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Procedimientos para la corrección de carga Una vez que defina la longitud del cable de medición, utilice el siguiente procedimiento para confi- gurar las condiciones de corrección de carga y realizar la corrección. (Consulte “5.1 Ajuste del largo del cable (corrección del largo del cable)”...
  • Página 120 Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Comienza la corrección. El instrumento volverá a la pantalla ADJ. El tiempo de adquisición del valor de co- Si la corrección no se completa normalmente: rrección varía con la frecuencia de medi- (p.
  • Página 121: Configuración De La Frecuencia De Corrección

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Configuración de la frecuencia de corrección Toque la tecla FREQ. Ingrese la frecuencia de corrección con el teclado numérico y toque la tecla de la unidad para aceptar la configuración. Toque cuando desee Toque cuando desee cancelar la entrada.
  • Página 122: Configuración Del Modo De Señal De Medición Y El Valor De Nivel Para El Nivel De Señal De Co

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Configuración del modo de señal de medición y el valor de nivel para el nivel de señal de co- rrección Toque la tecla LEVEL. Ingrese el nivel de voltaje o corriente con la tecla .
  • Página 123 Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Configuración de la polarización de CC Toque la tecla BIAS. Rango ajustable: De 0 V a 2,5 V Si comete un error, toque la tecla para volver a ingresar el valor.
  • Página 124: Configuración De Los Valores De Referencia

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Configuración de los valores de referencia Ingrese el valor de referencia para el parámetro que se muestra a la izquierda del modo de pará- metro para REF1 y el valor de referencia para el parámetro que se muestra a la derecha del modo de parámetro para REF2.
  • Página 125: X84; Para Restablecer Los Ajustes De Condición De Corrección

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Para restablecer los ajustes de condición de corrección Esta sección describe cómo eliminar todos los ajustes para el número de condición de corrección seleccionado. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla LOAD...
  • Página 126: X84; Deshabilitar La Corrección De Carga

    Corrección de carga (corrección de valores para que coincidan con los valores de referencia) Deshabilitar la corrección de carga Puede deshabilitar la corrección si configura el ajuste de corrección en OFF. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 27): (Pantalla de medición) tecla >(pantalla ADJ) tecla LOAD...
  • Página 127: Corrección De Los Valores Medidos Con Un Coefi

    Corrección de los valores medidos con un coeficiente de corrección especificado por el usuario (corrección de correlación) 5.7 Corrección de los valores medidos con un coefi- ciente de corrección especificado por el usuario (corrección de correlación) Esta funcionalidad le permite corregir valores medidos con un coeficiente de corrección especifica- do por el usuario.
  • Página 128 Corrección de los valores medidos con un coeficiente de corrección especificado por el usuario (corrección de correlación) Toque la tecla B. Toque la tecla SET. Ingrese el coeficiente de corrección con el teclado numérico y toque la tecla ENTER para aceptar el valor. Toque la tecla EXIT.
  • Página 129: Guardar Y Cargar La Condición De Medición Y Datos Del Valor De Corrección

    El instrumento contiene una pila de litio de respaldo integrada con una vida útil de aproximadamente diez años. • Cuando la vida útil de la pila de litio integrada se agote, las condiciones de medición no podrán guardar- se. Póngase en contacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki.
  • Página 130: Guardar Valores De Corrección Y Condiciones De Medición (Función De Guardado Del Panel)

    Guardar valores de corrección y condiciones de medición (función de guardado del panel) 6.1 Guardar valores de corrección y condiciones de medición (función de guardado del panel) Esta sección describe cómo guardar los datos de la condición de medición y los datos del valor de corrección en la memoria del instrumento.
  • Página 131: Diagrama De La Pantalla Panel

    Guardar valores de corrección y condiciones de medición (función de guardado del panel) Diagrama de la pantalla PANEL Cantidad de conjuntos de datos guardados El color del texto cambia de acuerdo con la cantidad de datos Los elementos actualmente guardados aparecen en la siguiente tabla. Colores del texto: Blanco Amarillo...
  • Página 132: Guardado De Los Valores De Corrección Y Las Condiciones De Medición

    Guardar valores de corrección y condiciones de medición (función de guardado del panel) Guardado de los valores de corrección y las condiciones de medición Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 24). (Pantalla de medición) tecla SET>(pantalla SET) pestaña ADVANCED>tecla PANEL Seleccione el número de panel a guar- Ingrese el nombre del panel con el te-...
  • Página 133 Guardar valores de corrección y condiciones de medición (función de guardado del panel) (Para sobrescribir un panel existente) Se mostrará el cuadro de diálogo OVER WRITE. Toque la tecla OVER WRITE. Toque cuando desee cancelar el guardado (sobrescritura). Toque dos veces la tecla EXIT. Muestra la pantalla de medición.
  • Página 134: Cargar Valores De Corrección Y Condiciones De Medición (Función De Carga Del Panel)

    Cargar valores de corrección y condiciones de medición (función de carga del panel) 6.2 Cargar valores de corrección y condiciones de medición (función de carga del panel) Esta sección describe cómo cargar los datos de panel que se hayan guardado en la memoria del instrumento.
  • Página 135: Cambiar El Nombre Del Panel

    Cambiar el nombre del panel 6.3 Cambiar el nombre del panel Esta sección describe cómo cambiar el nombre de un panel guardado en la memoria del instru- mento. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 24). (Pantalla de medición) tecla SET>(pantalla SET) pestaña ADVANCED>tecla PANEL Seleccione el número de panel cuyo...
  • Página 136: Eliminar Un Panel

    Eliminar un panel 6.4 Eliminar un panel Esta sección describe cómo eliminar un panel que se haya guardado en la memoria del instrumen- Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 24). (Pantalla de medición) tecla SET>(pantalla SET) pestaña ADVANCED>tecla PANEL Seleccione el número de panel que de- DELE-...
  • Página 137: Configurar El Sistema

    Configurar el sistema Este capítulo describe cómo configurar los ajustes del sistema del instrumento. Primero, coloque el modo de medición en modo LCR (p. 24). Los ajustes se configuran en la pantalla SYS. Configuración de los ajustes de la Le permite configurar los ajustes utilizados para controlar el interfaz instrumento desde una computadora a través de su interfaz (p.
  • Página 138: Configuración De La Interfaz (Controlar El Instrumento Desde Una Computadora)

    Configuración de la interfaz (controlar el instrumento desde una computadora) 7.1 Configuración de la interfaz (controlar el instru- mento desde una computadora) Esta sección describe cómo configurar los ajustes que se utilizarán para controlar el instrumento desde su interfaz USB, GP-IB, RS-232C o LAN. Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p.
  • Página 139: Prueba Del Sistema (Autodiagnóstico)

    Póngase en contacto con su aparece el verde, el panel táctil funcio- distribuidor o vendedor autorizado de Hioki. na adecuadamente. Toque dos veces la tecla EXIT. Anormal Muestra la pantalla de medición.
  • Página 140: X84; Calibración De Panel

    Si la tecla no aparece, el instrumento deberá repararse. Póngase en contacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki. Toque la tecla EXIT. Muestra la pantalla de medición. Prueba el estado LED y el estado de visualización de pantalla Le permite verificar el estado LED y el estado de visualización de pantalla.
  • Página 141: Prueba De Rom/Ram

    Si la indicación del resultado de valoración general es durante la prueba de ROM/RAM. NG, el instrumento deberá repararse. Póngase en con- tacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki. Nunca apague el instrumento durante una Toque dos veces la tecla EXIT.
  • Página 142 Prueba del sistema (autodiagnóstico)
  • Página 143: Con Una Memoria Usb (Guardar Y Cargar Datos)

    Con una memoria USB (guardar y cargar datos) Antes de utilizar esta función, asegúrese de leer “Antes de utilizar la memoria USB” (p. 14). Esta sección describe cómo guardar los datos de medición, ajustes del instrumento y otros datos en una memoria USB, así...
  • Página 144: Colocar Y Extraer Una Memoria

    Colocar y extraer una memoria USB 8.1 Colocar y extraer una memoria USB Inserción de una memoria USB Coloque la memoria USB en el puerto USB de la parte delantera del instrumento. • No coloque una memoria USB que no sea de una clase de almacenamiento masivo compatible.
  • Página 145: Verificación Del Contenido De Los Archivos En Una Memoria Usb

    Verificación del contenido de los archivos en una memoria USB 8.2 Verificación del contenido de los archivos en una memoria USB Esta sección describe cómo visualizar archivos y acceder a su contenido. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña LIST Reconocimiento de la memoria USB: azul...
  • Página 146: Formatear Una Memoria Usb

    Formatear una memoria USB 8.3 Formatear una memoria USB La memoria USB debe formatearse (inicializarse) antes de poder usarla. El instrumento formatea unidades en formato FAT32. El formateo es necesario porque los archivos en la memoria USB solo pueden reconocerse cuando se almacenan con el sistema de archivo FAT32. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p.
  • Página 147: Guardado De Los Datos De Medición

    Guardado de los datos de medición 8.4 Guardado de los datos de medición Guardado de los datos de medición en el texto Los datos de medición pueden guardarse en una memoria USB en formato CSV. (*: Hace refe- rencia a datos medidos antes de que se toque la tecla SAVE. Para guardar todos los datos de medición almacenados en la memoria del instrumento, consulte “Función de memoria (guarda los resultados de medición)”...
  • Página 148: Condiciones De Medición

    Ejemplo de guardado DATE (guarda la fecha y la hora): ON, SET (condiciones de medición) ON, PARA (parámetros de medición): ON, DELIM (delimitador): , (coma), QUOTE (comilla) “ (comillas dobles) ”,” Comillas Delimitador "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", Información "Serial No. 123456789" del instru- mento "DATE","11-11-30"...
  • Página 149: Procedimientos

    Guardado de los datos de medición Procedimientos Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña Coloque la memoria USB en el conector DATE Define si se utiliza la fecha y hora USB delantero (p.
  • Página 150: Configuración De Los Caracteres De Comillas, El Encabezado Y El Delimitador

    (no guardar Se cerrará el cuadro de diálogo. como encabezado). Cuando se define en ON Cuando se define en OFF "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "Serial No. 123456789" "Serial No. 123456789" "DATE","11-11-30" "FREQ","1.0000E+03","Hz"...
  • Página 151 (no guardar Se cerrará el cuadro de diálogo. como encabezado). Cuando se define en ON Cuando se define en OFF "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "Serial No. 123456789" "Serial No. 123456789" "DATE","11-11-30" "DATE","11-11-30"...
  • Página 152 (no guardar Se cerrará el cuadro de diálogo. como encabezado). Cuando se define en ON Cuando se define en OFF "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", "Serial No. 123456789" "Serial No. 123456789" "DATE","11-11-30" "DATE","11-11-30"...
  • Página 153 Guardado de los datos de medición Símbolo utilizado al Parámetros Descripción guardar archivos de texto Ω Impedancia ( Z [ohm] Admitancia (S) Y [S] θ Ángulo de fase de impedancia (°) PHASE [deg] Ω Resistencia efectiva = ESR ( ) (resistencia de serie equiva- RS [ohm] lente) Ω...
  • Página 154 "TRIG" "INT" "AVG","OFF" "AVG" "OFF" Cuando se define punto y coma Cuando se define espacio "HIOKI E.E. CORPORATION";"IM3536";"Ver. 1.00"; "HIOKI E.E. CORPORATION" "IM3536" "Ver. 1.00" "Serial No. 123456789" "Serial No. 123456789" "DATE";"11-11-30" "DATE" "11-11-30" "TIME";"10:11:42" "TIME" "10:11:48" "FREQ";"1.0000E+03";"Hz" "FREQ" "1.0000E+03" "Hz"...
  • Página 155 Define las comillas como comillas simples (’). Toque la tecla EXIT. Se cerrará el cuadro de diálogo. Cuando se define en OFF Cuando se define comillas dobles HIOKI E.E. CORPORATION,IM3536,Ver. 1.00, "HIOKI E.E. CORPORATION","IM3536","Ver. 1.00", Serial No. 123456789 "Serial No. 123456789" DATE,11-11-30 "DATE","11-11-30"...
  • Página 156: X84; Guardar Una Copia De La Pantalla

    Guardado de los datos de medición Guardar una copia de la pantalla Le permite guardar la pantalla que se muestra en una memoria USB en un formato de archivo bmp (256 colores o monocromático [2 colores]). La extensión de archivo es “.bmp”. Muestra de archivo BMP Color Monocromático...
  • Página 157 Guardado de los datos de medición Procedimientos Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña Coloque la memoria USB en el conector Toque dos veces la tecla EXIT. Muestra la pantalla de medición. USB delantero (p.
  • Página 158: Para Especificar La Carpeta De Guardado

    Guardado de los datos de medición Para especificar la carpeta de guardado Esta sección describe cómo definir la carpeta deseada como destino de guardado de datos. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña Coloque la memoria USB en el conector AUTO Crea automáticamente una car-...
  • Página 159: Guardado De Los Datos De Ajustes

    Guardado de los datos de ajustes 8.5 Guardado de los datos de ajustes Guardar los ajustes del instrumento distintos de los paneles Esta sección describe cómo guardar ajustes del instrumento distintos de los paneles en una me- moria USB. La extensión del archivo de ajustes es “.SET”. Esta función es útil cuando desea res- paldar el estado de ajuste del instrumento.
  • Página 160: X84; Guarde Todos Los Ajustes Del Instrumen- To, Incluidos Los Paneles (Función All Save)

    Guardado de los datos de ajustes Guarde todos los ajustes del instrumento, incluidos los paneles (fun- ción ALL SAVE) Esta sección describe cómo guardar ajustes del instrumento, incluidos los paneles, como archivos de ajustes en una memoria USB. La extensión del archivo será “.ALL”. En ese momento, los archi- vos de ajustes (extensión “.SET”) y los archivos de panel (extensión “.PNL”) también se guardarán por separado en la misma carpeta.
  • Página 161: Cargar Los Ajustes Del Instrumento

    Cargar los ajustes del instrumento 8.6 Cargar los ajustes del instrumento Cargar archivos de ajustes o panel Esta sección describe cómo cargar un archivo de ajustes (SET) o archivo de panel (PNL) que se guarda en la memoria USB y restaurar los ajustes. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p.
  • Página 162: X84; Cargar Archivos De Ajustes, Incluidos Los Archivos De Panel (Función All Load)

    Cargar los ajustes del instrumento Cargar archivos de ajustes, incluidos los archivos de panel (función ALL LOAD) Esta sección describe cómo cargar los archivos de ajustes (ALL), incluidos los archivos de panel, guardados en la memoria USB con la función ALL SAVE y restaurar los ajustes almacenados. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p.
  • Página 163: Verificación Del Contenido De Un Archivo

    Verificación del contenido de un archivo 8.7 Verificación del contenido de un archivo Esta sección describe cómo verificar archivos de datos de medición (CSV), archivos de copia de pantalla (BMP), archivos de ajustes (SET) y archivos de guardado de paneles (PNL) almacenados en una memoria USB en la pantalla del instrumento.
  • Página 164: Eliminación De Archivos Y Carpetas

    Eliminación de archivos y carpetas 8.8 Eliminación de archivos y carpetas Esta sección describe cómo eliminar archivos y carpetas guardadas en una memoria USB. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña LIST Coloque la memoria USB en el conector Toque la tecla DELETE.
  • Página 165: Creación De Carpetas

    Creación de carpetas 8.9 Creación de carpetas Esta sección describe cómo crear una carpeta en una memoria USB. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña LIST Coloque la memoria USB en el conector USB delantero (p.
  • Página 166: Visualizar La Información De La Memoria Usb

    Visualizar la información de la memoria USB 8.10 Visualizar la información de la memoria USB Le permite verificar el sistema de archivos y la tasa de uso de la memoria USB. Método de visualización de pantalla (para obtener más información, consulte p. 29).: (Pantalla de medición) tecla FILE>(pantalla FILE) pestaña LIST Coloque la memoria USB en el conector...
  • Página 167: Control Externo

    Control externo Este capítulo describe cómo conectar el conector EXT I/O en la parte posterior del instrumento a un dispositivo externo y cómo controlar el instrumento con los siguientes métodos: • Salida de señales desde el instrumento hasta el dispositivo externo (señal completa de medición, señal de resultados de valoración, etc.).
  • Página 168: Señales Y Conector De Entrada/Salida Externo

    Señales y conector de entrada/salida externo 9.1 Señales y conector de entrada/salida externo Antes de conectar los terminales, asegúrese de leer “Antes de conectar EXT I/O” (p. 15). Esta sección describe los conectores EXT I/O del instrumento, los conectores compatibles, las asig- naciones de señal del conector, la funcionalidad de señal de entrada (IN) y las señales de salida cuando se producen errores.
  • Página 169 Señales y conector de entrada/salida externo Nombre de la Función Sonda señal ― ― ― ― TRIG Activador externo Subida/ Borde (Consulte “Detalles de la función de señal de entrada (IN)” (p. 167)). caída (Sin usar) (Sin usar) ― ― ― Seleccione un número del panel Negativo Nivel...
  • Página 170 Señales y conector de entrada/salida externo Nombre de la Función Sonda señal ― ― ― Seleccione un número del panel (Consulte “Detalles de la función de señal de entrada (IN)” Negativo Nivel (p. 167)). ― ― ― Seleccione un número del panel (Consulte “Detalles de la función de señal de entrada (IN)”...
  • Página 171 Señales y conector de entrada/salida externo Funcionamiento del modo de medición continua (CONTINUA) Nombre de la se- Función Sonda ñal ― ― ― ― TRIG Activador externo Subida/ (Consulte “Detalles de la función de señal de entrada (IN)” Borde caída (p.
  • Página 172 Señales y conector de entrada/salida externo Nombre de la se- Función Sonda ñal ― ― ― ― ― ― ― ― ― ― No.2_PARA3-LO Salidas de los resultados de valoración del comparador Negativo Nivel LO para el segundo parámetro n.º 3. (Sin usar) (Sin usar) (Sin usar)
  • Página 173: Trada (In)

    Señales y conector de entrada/salida externo Detalles de la función de señal de entrada (IN) Esta sección describe señales de entrada (IN). Señal de en- Descripción detallada trada (IN) ― ― ― ― TRIG • Cuando la configuración del activador es el activador externo (EXT), se realiza la me- ―...
  • Página 174: X84; Detalles De La Función Del Modo Bcd

    Señales y conector de entrada/salida externo Detalles de la función del modo BCD Las señales de salida del modo LCD funcionan en dos modos: modo de valoración y modo BCD. En modo BCD, los valores medidos para los parámetros n.º 1 y n.º 3 salen con las señales BCD. Referencia: “Salida de valores medidos (cambiar al modo BCD) (solo en modo LCR)”...
  • Página 175: Ejemplo De Salida

    Señales y conector de entrada/salida externo Ejemplo de salida La coma decimal se establece en la posición adecuada. 12,3456 µF coma decimal: 99,9999 µ ― ― ― ― ― ― ― ― ― ― Visuali- zación decimal (orden alto) Salida de OFF OFF OFF ON OFF OFF ON OFF OFF OFF ON ON OFF ON OFF OFF Visuali- Polaridad: 0...
  • Página 176: Señales De Salida Cuando Se Producen Errores

    Señales y conector de entrada/salida externo Señales de salida cuando se producen errores Cuando se produce un error, las señales son las siguientes. Cuando se producen diversos errores, se genera la señal con la prioridad más alta. Referencia: “11.3 Visualización y mensaje de error” (p. 230) Durante la medición del compa- Durante la medi- rador...
  • Página 177: Ejemplo De Tiempo De Medición (Diagramas De Tiempo)

    Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) 9.2 Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) Esta sección describe un ejemplo de tiempo de medición en cada modo de medición con diagra- mas de tiempo. Modo LCR (LCR) En primer lugar, defina el activador en (activador externo) y establezca las condiciones de valoración del comparador.
  • Página 178: Descripción

    Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) Descripciones de intervalos del diagrama de tiempo Hora Intervalo Descripción (Aproximada- mente) Del resultado de valoración BIN, del comparador para EOM (LO): Definir el 40 µs valor para el tiempo de retardo (p.
  • Página 179 Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) ― ― ― ― ― ― ― ― • Cuanto más corto sea el tiempo de medición, menor será el tiempo en que INDEX y EOM estén en HI (OFF). ― ― ― ― ― ―...
  • Página 180 Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) Adquisición de los valores medidos (BCD) con un activador externo Con la salida BCD, es necesario adquirir los parámetros n.º 1 y 3 y el dígito de orden alto y el de orden bajo por separado.
  • Página 181 Ejemplo de tiempo de medición (diagramas de tiempo) Modo de medición continuo (CONTINUA) TRIG Cuando la señal del activador ingresa de EXT I/O o se toca la tecla en la pantalla en el modo de medición continua, la medición se realizará para todos los números de panel que se hayan habilitado en la pantalla.
  • Página 182: Circuitos Internos

    Esta sección proporciona los diagramas del circuito de I/O, las especificaciones eléctricas y las conexiones de ejemplo para el instrumento. Diagramas de circuito Circuito de entrada PLC, etc. IM3536 Aislado internamente 5 V ISO_5 V (No conecte energía externa) 2kΩ...
  • Página 183 Circuitos internos Circuito de salida IM3536 PLC, etc. Aislado internamente 5 V ISO_5 V (No conecte energía Entrada 10Ω externa) Voltaje Zener 30 V ISO_COM 27 ISO_COM Común Conexión a tierra de la señal común aislada internamente...
  • Página 184: X84; Especificaciones Eléctricas

    De 4,5 V a 5,0 V energía aislado Corriente máxima de salida 100 mA internamente Entrada de energía externa ninguno Ejemplos de conexión Ejemplos de conexión del circuito de entrada IM3536 IM3536 Entrada Entrada Conexiones de interruptores Conexiones de relé IM3536 IM3536 Común...
  • Página 185 Circuitos internos Ejemplos de conexión del circuito de salida IM3536 IM3536 Salida Salida 50 mA máx. ISO_COM ISO_COM 30 V máx. 30 V máx. Conexión al relé Conexión a LED IM3536 Salida IM3536 Salida Salida Salida negativa- lógica ISO_COM ISO_COM 30 V máx.
  • Página 186: Ajustes De I/O Externos

    Ajustes de I/O externos 9.4 Ajustes de I/O externos Los siguientes ajustes regulan EXT I/O. Pueden definirse en el instrumento y con comandos de comunicaciones. Puede controlar (iniciar y detener) el registro si ingresa una señal específica de un dispositivo externo al instrumento. Configuración del activador ex- Configuración en el instrumento: Consulte p.
  • Página 187 Ajustes de I/O externos Configuración del tiempo de retardo (de la salida de resultados de va- ― ― ― loración a la salida de EOM ) y operación de reinicio del resultado de la valoración Puede configurarse el tiempo de retardo para el período desde la salida de los resultados de valo- ―...
  • Página 188: Efectivo De Entrada Del Activador

    Ajustes de I/O externos Deshabilitar la entrada del activador durante la medición y definir el bor- de efectivo de entrada del activador Esta sección describe cómo seleccionar si se habilita o deshabilita la entrada del activador de EXT I/O durante la medición. Puede evitarse una entrada errónea debido a vibraciones si deshabilita la entrada del activador durante la medición.
  • Página 189: Método De Salida De Eom

    Ajustes de I/O externos ― ― ― Configuración del tiempo de salida y el método de salida de EOM ― ― ― ― ― ― ― ― Cuanto más alta sea la frecuencia de medición, menor será el tiempo en que INDEX y EOM estén en HI (durante la medición).
  • Página 190: X84; Salida De Valores Medidos (Cambiar Al Modo Bcd) (Solo En Modo Lcr)

    Ajustes de I/O externos Salida de valores medidos (cambiar al modo BCD) (solo en modo LCR) Esta sección describe cómo cambiar el modo de salida (entre el modo BCD y el modo de valora- ción) durante el modo LCR. El ajuste predeterminado es el modo de valoración, en cuyo caso se generan los resultados de la valoración.
  • Página 191: Preguntas Y Respuestas Sobre El Control Externo

    Preguntas y respuestas sobre el control externo 9.5 Preguntas y respuestas sobre el control externo Esta sección presenta una lista de preguntas frecuentes sobre el control externo para que consulte. Preguntas frecuentes Respuestas ― ― ― ― ¿Cómo conecto una entrada del activador Conecte el pasador de entrada TRIG en un pasador ISO_COM externo?
  • Página 192: Medición Con Una Computadora

    Medición con una computadora 9.6 Medición con una computadora Puede controlar el instrumento con los comandos de comunicación desde una computadora a tra- vés de las interfaces USB, GP-IB, RS-232C y LAN. Para habilitar la comunicación, las condiciones de comunicación deben definirse en el instrumento. Para obtener detalles sobre los ajustes de la condición de comunicación, consulte “Configuración de la interfaz (controlar el instrumento desde una computadora)”...
  • Página 193: Especificaciones

    Especificaciones generales Especificaciones Estas especificaciones se aplican a Medidor LCR IM3536. Todos los valores de voltaje de CA y corriente de CA son valores de RMS. 10.1 Especificaciones generales Modo de medición Modo LCR Medición con un conjunto de condiciones único Modo de medición continua...
  • Página 194: Frecuencia De Medición

    Especificaciones generales Frecuencia de medición Rango de ajuste De 4 Hz a 8 MHz Resolución de ajuste 4,00 Hz a 999,99 Hz: Pasos de 10 mHz 1,0000 kHz a 9,9999 kHz: Pasos de 100 mHz 10,000 kHz a 99,999 kHz: Pasos de 1 Hz 100,00 kHz a 999,99 kHz: Pasos de 10 Hz De 1,0000 MHz a 8,0000 MHz: Pasos de 100 Hz Exactitud de la frecuencia...
  • Página 195: Función De Límite

    Especificaciones generales Función de límite Función Define los límites (valores de límite) del voltaje que pueden aplicarse a la muestra o la corriente que puede fluir a la muestra. Modo de funcionamiento OFF/ON Límite de corriente Durante el funcionamiento de modo de voltaje constante o modo de voltaje de terminal abierto Rango de límite: De 0,01 mA a 100,00 mA...
  • Página 196: Rango De Medición

    Especificaciones generales Rango de medición Ω Ω Ω Ω Ω Ω Ω Ω Ω Rango de medición 10 rangos (100 m , 10 , 100 , 1 k , 10 k , 100 k , 1 M , 10 M Ω...
  • Página 197 Especificaciones generales Medición de resistencia CC Función Mide la resistencia CC (cuando el parámetro de medición se define en Rdc). Las condiciones de medición se definen por separado de la medición de CA. (Condiciones de medición: Rango de medición, velocidad de medición, promedio, ajuste de sincronización de valoración, retardo de CC, retardo de ajuste, frecuencia de línea) Nivel de señal de medición...
  • Página 198: Especificaciones Medioambien- Tales Y De Seguridad

    Especificaciones medioambientales y de seguridad 10.2 Especificaciones medioambientales y de seguri- Temperatura de funciona- 0°C a 40°C, 80% de HR o menos (sin condensación) miento y humedad Temperatura de almacena- -10°C a 50°C, 80% de HR o menos (sin condensación) miento y humedad Entorno operativo En interior, con grado de contaminación 2, a una altitud de hasta 2000 m.
  • Página 199: Accesorios Y Opciones

    Accesorios y opciones 10.3 Accesorios y opciones Accesorios: Consulte “Accesorios” (p. 1). Opciones: Consulte “Opciones (referencia: Corrección de estados abiertos y de cortocircuito)” (p. 2). 10.4 Especificaciones de las funciones Medición de CC (medición de resistencia CC) Ajuste de CC Función Funcionalidad para medir y cancelar la compensación del circuito Encendido (ON)/apagado (OFF) seleccionable...
  • Página 200: Activador

    Especificaciones de las funciones Activador Función Utiliza una señal específica para programar el inicio de la medición. Tipos de activador Activador interno: Genera automáticamente la señal del activador de forma interna y repite la medición. Activador externo: Le permite controlar la operación de medición del instrumento al ingresar una señal del activador de un dispositivo externo.
  • Página 201: Medición De Bin

    Especificaciones de las funciones Medición de BIN Función • Muestra hasta 10 resultados de valoración para dos parámetros (el pará- metro n.º 1 y el n.º 3) (BIN1 a BIN10, OUT OF BINS). • Le permite generar resultados de valoración en un dispositivo externo des- de EXT I/O.
  • Página 202: Verificación De Contacto

    Especificaciones de las funciones Verificación de contacto Verificación de contacto de 4 terminales Función Realiza una verificación de contacto (desconexión) entre H y entre Tiempo de verificación Variable • ANTES: Verifica el contacto antes de la medición. • DESPUÉS: Verifica el contacto después de la medición. •...
  • Página 203: Ajuste De Visualización

    Especificaciones de las funciones Ajuste de visualización Función Le permite encender o apagar la visualización de la pantalla LCD del instru- mento. (Cuando la pantalla está apagada, no se actualizará). Modo de funcionamiento OFF/ON • OFF: Apaga la pantalla LCD 10 segundos después del último uso del panel táctil.
  • Página 204: Promedio De Forma De Onda

    Especificaciones de las funciones Promedio de forma de onda Función • Le permite definir la cantidad de formas de onda de medición para cada banda de frecuencia de medición, según lo desee. • La exactitud de la medición aumenta cuando aumenta la cantidad de formas de onda, mientras que la velocidad de medición aumenta cuando disminuye la cantidad de formas de onda.
  • Página 205 Especificaciones de las funciones Medición continua Función Realiza una medición continua con las condiciones de medición guardadas con la función de guardado de panel. Un activador externo inicia la medición (cualquiera de los tres tipos que se describen a continuación). •...
  • Página 206 Especificaciones de las funciones • Corrección específica (SPOT) Función Adquiere los valores de corrección para las frecuencias de medición definidas. Cantidad máxima de 5 puntos ajustes Rango de ajuste de fre- CC, 4 Hz a 8 MHz cuencia válida • OFF (Ajuste predeterminado) Función Deshabilita los datos de corrección de cortocircuito.
  • Página 207: Guardado Y Carga Del Panel

    Especificaciones de las funciones Guardado y carga del panel Función Guarda las condiciones de medición y los valores de corrección en la me- moria interna del instrumento y carga los datos guardados. Las condiciones de medición deseadas pueden cargarse con los siguientes métodos: •...
  • Página 208: Control Externo (Con El Conector Ext I/O)

    Especificaciones de las funciones Guardar capturas de pantalla Función La tecla SAVE guarda la pantalla que se muestra. Formato de datos Formato de archivo BMP (256 colores o monocromático de 2 colores) Nombre del archivo Se genera automáticamente en función de la hora y la fecha y recibe la extensión “BMP”.
  • Página 209: Ajustes Del Sistema

    Especificaciones de las funciones Función de selección de borde activo del activador Función Le permite seleccionar el borde activo para la entrada del activador desde EXT I/O (subida o caída). Modo de funcionamiento DOWN/UP DOWN: caída, UP: subida Ajuste predeterminado DOWN ―...
  • Página 210: Información Del Instrumento

    Especificaciones de las funciones • USB Terminador CR+LF, CR (Ajuste predeterminado: CR+LF) • LAN Dirección IP Cuatro valores de 3 dígitos (desde 0 hasta 255 cada uno) (Ajuste predeterminado: 192.168.000.001) Máscara de subred Cuatro valores de 3 dígitos (desde 0 hasta 255 cada uno) (Ajuste predeterminado: 255.255.255.000) Puerta de enlace predeter- Cuatro valores de 3 dígitos (desde 0 hasta 255 cada uno) (Ajuste predeter-...
  • Página 211: Interfaces

    Interfaces 10.5 Interfaces Pantalla Pantalla Pantalla LCD VGA a color TFT de 5,7 pulgadas (640 × 480 puntos) Tamaño de punto 0,06 mm de ancho × 0,18 mm de alto Panel táctil Tipo de película resistiva analógica Conector EXT I/O Conector Hembra D-sub de 37 pasadores y rosca para tornillos 4-40 pulgadas Señal de entrada...
  • Página 212: Conector Lan

    Interfaces Conector RS-232C Conector Conector D-sub de 9 pasadores Longitud de datos Paridad Ninguno Bit de detención Control de flujo Hardware/software Terminador CR+LF, CR Velocidad de comunicación 9600 bps, 19200 bps, 38400 bps, 57600 bps Conector GP-IB Conector Conector de 24 pasadores tipo puerto paralelo (Centronics) Normas IEEE-488.1 1987, IEEE-488.2 1987 Conector LAN...
  • Página 213: Rango Y Exactitud De Medición

    Rango y exactitud de medición 10.6 Rango y exactitud de medición Ecuación de exactitud de medición: La exactitud de medición se calcula con la siguiente ecuación. Exactitud de la medición = exactitud básica × C × D × E × F × G C: Coeficiente de nivel, D: Coeficiente de la velocidad de medición, E: Coeficiente del largo del cable, F: Coeficiente de polarización de CC, G: Coeficiente de temperatura (coeficiente de temperatura de funcionamiento)
  • Página 214 Rango y exactitud de medición Para la medición de CA (frecuencia de medición) Rango De 10,001 kHz a 100,00 kHz De 100,01 kHz a 1 MHz De 1,0001 MHz a 8 MHz Ω 100 M Ω 10 M A=0,5 B=0,1 B=0,5 Ω...
  • Página 215 Rango y exactitud de medición Cálculo de ejemplo de la exactitud básica (1) Calcule la exactitud básica para la impedancia Z =50 Ω (Si las condiciones de medición son una frecuencia de medición de 10 kHz y una velocidad de medición de SLOW2) Extraído de “Exactitud básica”...
  • Página 216: Agregue Los Valores Para El Rango De 1 K Te Ecuación: Exactitud Z

    Rango y exactitud de medición (2) Calcule la exactitud básica para la capacitancia Cs=160 nF. (Si las condiciones de medición son una frecuencia de medición de 1 kHz y una velocidad de me- dición de SLOW2) Extraído de “Exactitud básica” (p. 207). 1,0000 kHz a Rango 10,000 kHz...
  • Página 217 Rango y exactitud de medición Si hay un rango dado disponible, varía con los ajustes (ajustes de polarización de CC y del largo del cable). [Largo del cable de 0 m] Frecuencia de medición Rango 4 Hz a 100 Hz a 1 kHz a 10,001 kHz 100,01 kHz...
  • Página 218 Rango y exactitud de medición [Largo del cable de 2 m] Frecuencia de medición Rango 4 Hz a 100 Hz a 1 kHz a 10,001 kHz 100,01 kHz 1,0001 MHz 2,0001 MHz 99,99 Hz 999,99 Hz 10 kHz a 100 kHz a 1 MHz a 2 MHz a 8 MHz...
  • Página 219 Rango y exactitud de medición El rango de los niveles de medición para el que se garantiza la exactitud varía con las condiciones de ajuste. Rango del nivel de medición de la exactitud garantizada Frecuencia de medición Impe- dancia Rango de la 100 Hz a 4 Hz a...
  • Página 220: C: Coeficiente Del Nivel De Medición

    Rango y exactitud de medición C: Coeficiente del nivel de medición El coeficiente del nivel de medición se muestra en la tabla a continuación. • Medición de CC (medición de resistencia CC) Nivel de medición Coeficiente • Medición de CA Nivel de medición De 0,010 V a 0,999 V De 1,01 V a 5 V...
  • Página 221: E: Coeficiente Del Largo Del Cable De Medición

    Rango y exactitud de medición Coeficiente de la velocidad de medición N.º Banda de frecuencia De 200,01 kHz a 300,00 kHz De 2 a 11 De 12 a 47 De 48 a 959 De 300,01 kHz a 400,00 kHz De 2 a 19 De 20 a 79 De 80 a 1599 1600...
  • Página 222: Rango Medible Para L Y C

    Rango y exactitud de medición Rango medible para L y C Rango medible para L 100k 100m 100u 100n 100p 100k Frecuencia de medición [Hz] Rango medible para C 100m 100u 100n 100p 100f 100k Frecuencia de medición [Hz] Frecuencia de medición (Hz)
  • Página 223: Acerca De Los Tiempos De Medición Y La Velocidad De Medición

    Acerca de los tiempos de medición y la velocidad de medición 10.7 Acerca de los tiempos de medición y la veloci- dad de medición Los tiempos de medición varían con las condiciones de medición (consulte la tabla a continuación). Los valores se proporcionan solo como referencia (y varían con las condiciones de funcionamiento). ―...
  • Página 224: Activador Externo

    Acerca de los tiempos de medición y la velocidad de medición Cuando se habilita la verificación de contacto, el tiempo de verificación de contacto se añadirá a los tiempos de medición analógicos indicados en la página anterior. Verificación de contacto Tiempo de verificación de con- Tiempo de verificación de contacto tacto...
  • Página 225: Tiempo De Espera

    Acerca de los tiempos de medición y la velocidad de medición D: Tiempo de visualización de pantalla Visualización en pantalla Tiempo de visualización de pantalla Sin visualización 0,0 ms Pantalla Máx. 0,3 ms E: Tiempo de guardado de memoria Función de memoria Tiempo de guardado de memoria ON o IN Máx.
  • Página 226 Acerca de los tiempos de medición y la velocidad de medición...
  • Página 227: Mantenimiento Y Servicio

    Cuando cambie estas piezas, comuníquese con su distribuidor de Hioki. El tiempo de vida útil de las piezas depende del ambien- te operativo y de la frecuencia de uso. No se garantiza que las piezas funcionen durante todo el ciclo de recambio recomendado.
  • Página 228: X84; Transporte Del Instrumento

    Calibración, inspección, reparación y limpieza Transporte del instrumento • Asegúrese de tener en cuenta las siguientes precauciones: • Para evitar daños en el instrumento, retire de él los accesorios y elementos opcionales. Además, utilice los materiales del paquete original en el que se envió y asegúrese de utilizar doble caja. Los daños que se produzcan durante el envío no están cubiertos por la garantía.
  • Página 229: Resolución De Problemas

    • Si parece haber daños, consulte la sección “Antes de devolverlo para su reparación” antes de comuni- carse con su distribuidor o representante de Hioki. No obstante, en los siguientes casos, deje de utilizar el instrumento de inmediato, desconecte el cable de alimentación y comuníquese con su distribuidor o revendedor de Hioki.
  • Página 230 Se utiliza un cable casero. • Verifique el método de cableado y corríjalo si es necesario. • Utilice un cable diseñado por Hioki y configure el instrumento con el largo del cable. Consulte“5.1 Ajuste del largo del cable (correc- ción del largo del cable)” (p. 98).
  • Página 231 (CC)” (p. 63). Se utilizan diversos instru- Separe los instrumentos y los cables de medi- mentos IM3536 ubicados muy ción antes de usar. cercanos entre sí. No puede realizar la Se muestra un error.
  • Página 232 Resolución de problemas Síntoma Causa Solución y referencia No puede realizar la Se mide un elemento con su Si hay un voltaje de CC alto, puede dañar el medición adecuada- propio voltaje, por ejemplo, una instrumento. Evite medir la muestra. mente.
  • Página 233 Resolución de problemas Síntoma Causa Solución y referencia La corrección abier- El instrumento se utiliza en un Si utiliza el instrumento en un entorno con mu- ta o de cortocircuito entorno caracterizado por una cho ruido, considere tomar las siguientes medi- genera error.
  • Página 234: Cuando No Puede Establecerse Una Causa Aparente

    Resolución de problemas Cuando no puede establecerse una causa aparente Ejecute una restauración del sistema. La mayoría de los ajustes vuelven a sus valores predeterminados al momento en que el instrumento se envió desde la fábrica. (Algunos ajustes no regresarán a sus valores predeterminados. Consulte “Apéndice 11 Tabla de configuración inicial”...
  • Página 235: X84; Realizar Un Reinicio Completo (Si No Puede Realizar Un Reinicio Del Sistema)

    Si el instrumento sigue sin funcionar normalmente después de un reinicio completo, debe repa- rarse. Comuníquese con su distribuidor o representante de Hioki si no está seguro sobre dónde se adquirió el instrumento. Cuando realice un reinicio completo, la mayoría de los ajustes volverán a sus valores predetermi-...
  • Página 236: Visualización Y Mensaje De Error

    El instrumento necesita una paldo RAM se ha agotado. reparación. Póngase en contacto con su distribuidor o vendedor autori- zado de Hioki. Este mensaje aparecerá en la Cargue los valores de me- parte superior de la pantalla si dición almacenados en la el número definido de resulta-...
  • Página 237 Visualización y mensaje de error Descripción general Error Descripción Solución y referencia del error Este mensaje aparecerá a la Reduzca el nivel de voltaje o derecha del valor de super- de corriente. visión cuando no se pueda Consulte “Nivel de señal de realizar la medición de co- medición (CA)”...
  • Página 238 Póngase en contacto con su interno evita que se complete distribuidor o vendedor autori- la medición. zado de Hioki. Este mensaje aparecerá en el • Cambie el rango de medi- área de visualización del valor ción por un rango de impe- medido si el valor medido es dancia alta.
  • Página 239 • Si no se descubren proble- mas, el instrumento deberá repararse. Póngase en contacto con su distribuidor o vendedor autorizado de Hioki.
  • Página 240 (p. 192). • Si este error aparece incluso cuando el instrumento se utiliza dentro de su rango de temperatura de funcio- namiento, el instrumento deberá repararse. Póngase en contacto con su distribui- dor o vendedor autorizado de Hioki.
  • Página 241: Desechar El Instrumento

    Desechar el instrumento 11.4 Desechar el instrumento El instrumento utiliza una pila de iones de litio como fuente de energía para guardar las condicio- nes de medición. Cuando deseche el instrumento, retire la pila de litio y deseche ambos según los reglamentos locales.
  • Página 242 Desechar el instrumento...
  • Página 243: Apéndice

    Parámetros de medición y fórmula de cálculo Apéndice Apéndice 1 Parámetros de medición y fórmula de cálculo En general, la impedancia Z se utiliza para evaluar las características de los componentes del cir- cuito, por ejemplo. Mide los vectores de voltaje y corriente para los componentes del circuito en relación con las seña- les de frecuencia de medición de CA.
  • Página 244 Parámetros de medición y fórmula de cálculo Desde el voltaje que se aplica entre los terminales de la muestra a analizar, la corriente que flu- θ ye por la muestra de prueba en este momento, el ángulo de fase entre este voltaje V y la corrien- ω...
  • Página 245: Apéndice 2 Medición De Compo

    Medición de componentes de impedancia alta Apéndice 2 Medición de componentes de impedancia alta Algunas veces, el valor medido que se obtiene al probar un elemento de impedancia alta (como, Ω por ejemplo, una resistencia con más de 100 k de resistencia) no es confiable, ya que dicho ele- mento es vulnerable a los efectos de interferencias externas y elementos similares.
  • Página 246 Medición de componentes dentro del circuito Apéndice 3 Medición de componentes dentro del cir- cuito Medición de un componente dentro del circuito después de proporcionar una protección. • Consulte la siguiente figura cuando mida un valor de resis- tencia para la resistencia , incluso si las puntas de las dos sondas entran en contacto con los extremos de la resistencia , considere la suma del flujo de corriente por la resistencia...
  • Página 247: Apéndice 4 Contramedidas Para

    Contramedidas para la incorporación de ruido externo Apéndice 4 Contramedidas para la incorporación de ruido externo El instrumento se diseña para resistir errores producidos por la interferencia de los cables de prue- ba o la línea de alimentación. No obstante, si el nivel de interferencia es particularmente grande, esto puede producir errores de medición o un funcionamiento defectuoso.
  • Página 248: X84; Contramedidas Para El Ruido De Los Cables De Medición

    Suministrar la polarización de CC Contramedidas para el ruido de los cables de medición Si la interferencia produce ruido en los cables de medición, su influencia puede moderarse con la siguiente contramedida. Conecte un filtro con núcleo de ferrita EMI en el cable comercial. Pase los cables de prueba por un núcleo de ferrita antiinterferencia disponible comercialmente y fíjela cerca de los terminales de medición para suprimir el ruido de los cables de medición.
  • Página 249: X84; Cómo Suministrar Un Voltaje De Polar- Ización De Cc

    Ejemplo: Cuando se aplica una polarización de voltaje de CC en un capacitor u otra muestra de prueba Circuito de voltaje de polarización de CC Capacitor R o L (>>Z) IM3536 Fuente de Muestra de medición voltaje de CC PROTECCIÓN •...
  • Página 250: X84; Cómo Suministrar Una Corriente De Po- Larización De Cc

    Circuito de corriente de polarización de CC Bobina de reactancia Capacitor IM3536 Fuente de co- Muestra de medición rriente de CC • Conecte la muestra en el cable de medición, la sonda o el accesorio y, luego, aumente gra- dualmente el voltaje de la fuente de CC hasta el nivel de polarización de CC especificado.
  • Página 251: Apéndice 6 La Función De Pro- Tección Contra Carga Residual

    La función de protección contra carga residual Apéndice 6 La función de protección contra carga re- sidual ATENCIÓN • El voltaje máximo mencionado del que puede protegerse al instrumento con esta función solo sirve como referencia y no es un valor garantizado. El instrumento pue- de dañarse de acuerdo con las condiciones de operación;...
  • Página 252: Apéndice 7 Modo De Circuito

    Modo de circuito equivalente en serie y modo de circuito equivalente en paralelo Apéndice 7 Modo de circuito equivalente en serie y modo de circuito equivalente en paralelo El instrumento mide la corriente que fluye a la muestra de prueba y el voltaje en ambos extremos de la muestra de prueba y determina los valores Z y θ...
  • Página 253: Apéndice 8 Corrección Abierta Y Corrección De Corto- Circuito

    Corrección abierta y corrección de cortocircuito Apéndice 8 Corrección abierta y corrección de corto- circuito El componente de impedancia residual del accesorio de prueba puede considerarse en términos de un circuito equivalente, como se muestra en la figura. Además, debido a que el valor medido para la impedancia incluye este componente residual, para obtener el valor de impedancia genui- no, es necesario compensar el valor medido en términos del componente residual de impedancia de circuito abierto y el componente residual de cortocircuito, que, en consecuencia, deberán obte-...
  • Página 254: Apéndice 9 Colocar Hardware De Montaje Sobre Bastidor En El In- Strumento

    Colocar hardware de montaje sobre bastidor en el instrumento Apéndice 9 Colocar hardware de montaje sobre bas- tidor en el instrumento ADVERTENCIA Tenga en cuenta las siguientes precauciones con respecto al montaje de tornillos para evitar daños en el instrumento y accidentes por descarga eléctrica. •...
  • Página 255: Procedimiento De Instalación

    Colocar hardware de montaje sobre bastidor en el instrumento Procedimiento de instalación Retire las patas de la parte inferior del instrumento y los tornillos de los lados (cuatro cerca de la parte delantera). M3 × 6 mm M4 × 6 mm Instale los espaciadores en ambos lados del instrumento y sujete la placa de montaje sobre bastidor con los tornillos M4 ×...
  • Página 256: Apéndice 10 Diagrama Dimen

    Diagrama dimensional Apéndice 10 Diagrama dimensional 330±1 (Unidad: mm) Apéndice14...
  • Página 257: Apéndice 11 Tabla De Configura

    Tabla de configuración inicial Apéndice 11 Tabla de configuración inicial La siguiente tabla muestra la configuración inicial del instrumento. También debe incluirse la siguiente información: • Configurar el estado después de la inicialización • Cuando la configuración regrese a su valor predeterminado cuando se encienda el instrumento. •...
  • Página 258: Ajuste Predeterminado

    Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado Cantidad de veces para el prome- ← ← ← Sí Sí Ajustes bási- Retardo del activador 0,0000 s ← ← ← Sí Sí Salida sin- ON/OFF ← ←...
  • Página 259 Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado Capacitancia ← ← ← Sí Sí Conductivi- Longitud de la muestra 20,00000 mm ← ← ← Sí Sí dad/ Constante Área dieléctrica transversal 12,00000 mm ← ← ←...
  • Página 260 Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado Modo ABS/ABS ← ← ← Sí Sí Valor de límite supe- OFF/OFF ← ← ← Sí Sí rior Modo de va- lor absoluto Valor de límite infe- OFF/OFF ←...
  • Página 261 Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado ON/OFF ← ← Sí Sí cambios Modo de corrección Z-θ ← ← Sí Sí cambios Valor de referencia Z ← ← Sí Sí cambios Valor de refe- rencia Valor de referencia θ...
  • Página 262 Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado Tipo de guardado ← ← ← Sí Panel Registro del panel Ninguno cambios Terminador CR+LF ← Sí cambios cambios Dirección ← Sí cambios cambios GP-IB Terminador ← Sí...
  • Página 263 Tabla de configuración inicial Inicialización con comandos Ajuste prede- Elementos de ajuste terminado Datos de respuesta a la consulta sobre adquisición de valor medido ← ← ← Sí :MEASure:VALid Salida automática del valor medi- ← ← ← Sí Interfaz :MEASure:OUTPut:AUTO Formato de transferencia ASCII ←...
  • Página 264 Declaración de cumplimiento del dispositivo Apéndice 12 Declaración de cumplimiento del dispositivo “Información sobre el cumplimiento de normas” en función de la norma IEEE 488.2 Elemento Descripción Funciones de interfaz IEEE 488.1 Consulte las “especificaciones GP-IB” en el Manual de instrucciones de comunicación en el Disco de aplicación LCR en paquete.
  • Página 265 Declaración de cumplimiento del dispositivo Elemento Descripción Resumen de elementos funcionales para Pueden utilizarse los siguientes: utilizar cuando se constituyen comandos • Mensaje del programa específicos del dispositivo y si pueden • Terminador del mensaje del programa utilizarse encabezados de programas o •...
  • Página 266 Declaración de cumplimiento del dispositivo Apéndice24...
  • Página 267 Index Componentes de impedancia alta ....Apéndice3 Con una computadora ..........186 Accesorio ..............35 Condiciones de medición ......26, 43, 123 Accesorios ..............1 Conductancia............40 Activador............. 63–64 Conductividad ............. 40, 68 Activador externo............63 Conector ............. 18–19 Activador interno............63 Conector GP-IB ..........
  • Página 268 Index e.c................11 HOLD................ 45 Ejemplos de conexión ........178–179 El instrumento no funciona........224 Elementos de la medición ........187 Eliminar un panel ............ 130 Iac ................41 Encendido de la alimentación......13, 36 Idc ................41 Entorno ..............
  • Página 269 Index Carga de ajustes del instrumento ....155–156 Pantalla SET ............. 25 Colocar ..............138 Pantalla SYS ............28 Creación de carpetas .......... 159 Pantalla táctil ............20 Eliminación de archivos y carpetas ..... 158 Para rangos de medición individuales ....80–82 Formatear............
  • Página 270 Index Tecla RNG SYNC ............. 80 Tecla ROM/RAM TEST ........... 135 Salida Tecla SAVE ............. 153 Valores medidos/resultado de valoración ... 184 Tecla SAVE TO............152 Salida de valores medidos ........184 Tecla SCALE ............121 Salida sincrónica del activador ..... 65, 66–67 Tecla SELECT ............
  • Página 271 16-01 ES...

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