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Controle los resultados de la medición. (p. 41)
Se mostrará un mensaje de error:
Mensaje de error
Reference
Value: Sin garantía de exactitud sobre el valor medido
Memory
Full: Memoria llena
Hi
Z: Error de rechazo de Hi Z
Consulte "11.3 Visualización y mensaje de error" (p. 230).
La siguiente funcionalidad también se encuentra disponible
Medición de la conductividad y la constante dieléctrica
Medición a un nivel de precisión alto
Limitación de inestabilidad de los valores mostrados
Configuración de las condiciones de medición para cada rango de medición
Aumento en la velocidad o la precisión de la medición
Detección de errores de contacto en la medición de dos terminales
Detección de contacto deficiente con la prueba en la medición de cuatro terminales
Cambio de tono de tecla o valoración
Desactivación de las operaciones de las teclas (función de bloqueo de teclas)
Realización de la medición con la salida de una señal de un dispositivo
externo hacia el instrumento
Control del instrumento mediante el envío de comandos desde una computadora
Guardado de datos de configuración en una memoria USB
Carga de datos de configuración de una memoria USB
• Para ampliar la imagen del valor medido: p. 42
• Para cambiar la cantidad de dígitos utilizados para mos-
trar los valores medidos: p. 88
• Cuando desee juzgar los resultados de la medición:
Para realizar una medición del comparador (p. 70);
para realizar una medición de BIN (p. 75)
• Cuando desee guardar los resultados de la medición:
Para guardar la cantidad deseada de puntos de datos
de medición (p. 87)
Para guardar un punto de datos de medición antes de
que se produzca el guardado en la memoria USB en
formato CSV (p. 141)
Visualización de errores
Proceso de medición
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8
p. 68
p. 56
9
p. 57
p. 80
p. 83
p. 85
10
p. 86
p. 90
p. 91
p. 63, p. 161
p. 132
p. 153
p. 155
9
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