Modificación Del Número De Longitudes De Muestreo - Mitutoyo SURFTEST SJ-210 Manual De Usuario

Sistema de medición de rugosidad de superficies
Ocultar thumbs Ver también para SURFTEST SJ-210:
Tabla de contenido

Publicidad

7.7
Modificación del Número de Longitudes de
Muestreo
Con el SJ-210, la longitud de evaluación (valor cut-off x número de longitudes de
muestreo) se deriva de un número de longitudes de muestreo 1-10 o una longitud
arbitraria ( "Opt.Length") Si el número de longitudes de muestreo se ajusta a "Opt
Length", la longitud de evaluación se puede ajustar a una longitud arbitraria.
NOTA
• Si el perfil de evaluación se ajusta a "R-Motif", el número de longitudes de muestreo no
se puede ajustar.
Perfiles de evaluación y número de longitudes de muestreo.
Si se cambia el perfil de evaluación, el número de longitudes de muestreo se ajusta a los
siguientes valores iniciales. Estos valores se pueden modificar según sea necesario.
NOTA
• Si se selecciona "Opt Length", la longitude de evaluación se puede ajustar a una
longitud arbitraria. Para más detalles, véase la sección 7.8 "Ajuste la Longitud de
Evaluación a una Longitud Arbitraria"
• Si la valoración GO/NG (Bien /mal) se base en la regal 16%, se precisan 7 o más
longitudes de muestreo.
• Para las reglas de valoración GO/NG (Bien /mal) definidas con una longitud arbitraria,
solo son válidos el valor máximo y promedio.
CONSEJO
• Puede modificar el número de longitudes de muestreo en la pantalla de Origen
pulsando la tecla de método abreviado [ ← ]. Se puede mover por los valores
disponibles. Sin embargo, no puede modificar una longitud arbitraria.
7-14
Perfiles de
Número de longitudes de
evaluación
P
R
DF
R-Motif
Designar longitud arbitraria
muestreo
1
5
5
No. 99MBB122A

Publicidad

Tabla de contenido
loading

Tabla de contenido