SICK nanoScan3 I/O Instrucciones De Uso página 118

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DATOS TÉCNICOS
118 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | nanoScan3 I/O
Tablas de casos de super‐
visión
Casos de supervisión
Ángulo de exploración
Resolución del campo de pro‐
tección
Resolución angular
Tiempo de respuesta
Tiempo de ciclo de explo‐
ración
Suplemento del campo de
protección necesario general
(BT = Banda de tolerancia del
escáner láser de seguridad)
Suplemento Z para errores
R
de medición por reflexión
Desviación respecto a la pla‐
nicidad ideal del campo de
exploración a 3 m
Evaluaciones múltiples
Tabla 30: Características técnicas de seguridad
Tipo
Nivel de integridad de seguri‐
dad
Límite de respuesta SIL
Categoría
Nivel de rendimiento
PFH (probabilidad media de
D
un potencial riesgo por fallo a
la hora)
T (duración de uso)
M
Estado seguro en caso de
fallo
Tabla 31: Interfaces
Par de salidas conmutadas
seguras (OSSD)
Rearranque automático de
las salidas conmutadas segu‐
ras (OSSD) después de
Longitud del cable
Interfaz de configuración y diagnóstico
Tipo de conexión
Velocidad de transmisión
Longitud del cable
nanoScan3 Core I/O
1
≤ 2
275° (–47,5° ... 227,5°)
20 mm, 30 mm, 40 mm, 50 mm, 60 mm, 70 mm, 150 mm,
200 mm
0,17° mm
≥ 70 ms, detalles: véase "Tiempos de respuesta", página 122
30 ms
65 mm
350 mm
≤ ± 75 mm
2 ... 16
nanoScan3 Core I/O
Tipo 3 (IEC 61496)
SIL 2 (IEC 61508)
SILCL 2 (IEC 62061)
Categoría 3 (ISO 13849-1)
PL d (ISO 13849-1)
8 × 10 –8
20 años (ISO 13849-1)
Como mínimo una salida conmutada segura (OSSD) se encuen‐
tra en estado OFF.
nanoScan3 Core I/O
1
2 s ... 60 s (configurable)
≤ 30 m
USB 2.0 Micro B (conector hembra)
≤ 12 Mbit/s (velocidad plena)
≤ 3 m
nanoScan3 Pro I/O
2
≤ 128
nanoScan3 Pro I/O
nanoScan3 Pro I/O
≤ 2
≤ 20 m
8024598/15VP/2019-11-15 | SICK
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