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APARTADO
APARTADO
E
A
REVISIÓN DE PORTAOBJETOS
Nota:
durante la revisión del portaobjetos, el CT puede localizar automáticamente todos los campos
de visión sin tener que apartar la vista del microscopio. La rueda de desplazamiento del
control de revisión tiene las mismas funciones que los botones táctiles de la interfaz de
usuario. La interfaz de usuario solo es una representación gráfica del proceso de revisión.
Tal como se describe en esta sección, la entrada en la pantalla táctil solo es necesaria cuando
se pasa de la localización automática al escaneado automático.
Localización automática
La función Localización automática contiene los 22 campos de interés identificados por el Integrated
Imager. Los campos de visión se presentan según la localización geográfica del portaobjetos, y no por
orden de importancia. El CT debe escanear el campo entero de cada uno de los 22 campos de visión
presentados.
PRECAUCIÓN: escanee el campo de visión completo.
Cada campo se presenta en el aumento de 10X. En cada localización, el usuario puede:
•
Enfocar, según sea necesario.
•
Cambiar manualmente a un objetivo diferente.
•
Mover la mancha celular utilizando los mandos de control de la plataforma.
•
Volver a la localización previa pulsando el botón Anterior utilizando el control de revisión
o la pantalla táctil.
•
Añadir y borrar marcas electrónicas pulsando Marcar, utilizando el control de revisión o la
pantalla táctil.
El objetivo debe estar en la posición de 10X para pasar a la siguiente localización. Pulse Siguiente
usando el control de revisión o la pantalla táctil.
Nota:
la velocidad con la que se mueve la plataforma de localización a localización cuando se
utiliza Siguiente o Anterior se puede ajustar según la preferencia del usuario. Consulte
"Velocidad de localización automática" en la página 3.41.
F
UNCIONAMIENTO
Manual del usuario del ThinPrep™ Integrated Imager
8 4
4.13
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