Optika Italy IM Serie Manual De Instrucciones página 66

14. Uso del microscopio in RPC (opzionale)
Il contrasto di fase a rilievo (RPC) è una modifica del contrasto di fase convenzionale che porta a miglioramenti visibili della
qualità dell'immagine nella microscopia ottica. In particolare, i seguenti parametri possono essere migliorati: contrasto,
profondità focale, nitidezza, tridimensionalità, planarità e artefatti da alone. Questi effetti possono essere ottenuti quando
gli anelli di fase del condensatore sono sostituiti da anelli a forma di mezzaluna.
Analogamente all'osservazione in contrasto di fase, l'osservazione RPC richiede l'utilizzo di una slitta contenente gli anelli
di fase a mezzaluna e obiettivi RPC dedicati.
L'utilizzo della slitta e dell'obiettivo sono identici a quelli per contrasto di fase.
14.1 Montaggio della slitta per RPC
1. Inserire la slitta nel gruppo illuminatore, con la parte stampa-
ta verso l'alto. (Fig. 43)
2. Muovere la slitta nella posizione desiderata finché con si
blocca con un clic.
3. Nelle osservazioni in RPC, tenere la levetta di regolazione
del diaframma di apertura ① sulla posizione "O" (aperto).
14.2 Slitta RPC
• Due slitte sono disponibili per l'uso con diversi obiettivi.
• Una slitta è dedicata all'obiettivo 4X (Fig. 44) e un'altra è per
gli obiettivi 10X/20X/40X. (Fig. 45)
• Entrambe hanno un foro vuoto e un anello RPC.
POSIZIONE
SLITTA
VUOTO
4x
anello RPC 4x
10x/20x/40x
10x/20x/40x
SIGNIFICATO APPLICAZIONE
osservazione in
②
foro vuoto
campo chiaro
osservazione in
③
RPC con obiettivo
osservazione in
anello RPC
RPC con obiettivi
④
10x, 20x e 40x
①
4x
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② ③
② ④
F ig. 43 F ig. 43
F ig. 44 F ig. 44
F ig. 45 F ig. 45