6.4.3 Memoria de trabajo (RAM)
6.4.4 Pantalla
774 Oven Sample Processor, Instrucciones para el uso
Este paso de diagnosis ejecuta un ensayo no destructivo a través de toda
el área del contenido de RAM (memoria de trabajo).
• Prepare el aparato para la diagnosis (véase Cap. 6.4.2).
• Pulse < > varias veces, hasta que aparezca
diagnosis
>RAM test
• Pulse <ENTER>
Si no se encuentran errores, aparece en la pantalla :
>RAM test
RAM test ok
• <ENTER>
Con este paso de diagnosis se puede controlar la capacidad funcional de
los diodos luminosos y de la pantalla.
• Prepare el aparato para la diagnosis (véase cap. 6.4.2).
• Pulse < > varias veces, hasta que aparezca
diagnosis
>display test
• <ENTER>
Después de pulsar la tecla <ENTER>, el programa realiza automáticamente un proceso de
ensayo para el control óptico de los diodos luminosos y de la pantalla.
⇒ Los diodos luminosos parpadean consecutivamente durante un breve tiempo.
⇒ La iluminación de fondo de la pantalla se desconecta y se vuelve a conmutar por un breve
tiempo.
⇒ Aparece la muestra de ensayo de conexión (cada pixel activo).
⇒ Se borran las dos líneas de la pantalla.
⇒ Las dos líneas de la pantalla se escriben una tras otra con los caracteres „ # ", „H" y por úl-
timo con „I" .
⇒ Las dos líneas se escriben de derecha a izquierda en escritura sin fin
„0123456789ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ".
• El proceso de ensayo puede detenerse, pulsando la tecla <5>, y vol-
verse a iniciar.
El ensayo se abandona con la tecla <QUIT> o <STOP>.
•
diagnosis
>display contrast test
• Pulse <ENTER>
Después de pulsar la tecla <ENTER> aparece la siguiente indicación, variando constantemen-
te el contraste de la pantalla entre claro y oscuro.
6.4 Diagnosis
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