スキャン測定 - X-Rite PANTONE i1 PRO 3 PLUS Manual De Uso

スキャン測定
バーチャルアパーチャー技術
スキャニング中のバーチャルアパーチャーのサイズは
パッチの長さに依存します。
平均処理に使用される有効な測定
無効な測定
i1Pro 3 装置は、スキャン測定において 1 秒間に 400 回の測定を行います。
装置の自動パッチ検出機能は、パッチの有効な測定値とパッチ間の無効な測定
値を判別します。パッチの有効な測定値は平均化され、装置は平均測定結果を
ソフトウェアに出力します。この技術により、i1Pro 3 装置のバーチャルアパーチャ
ーはパッチの長さに対して適応することが可能です。最良の測定結果を得るには、
テストチャートのパッチ長をプリンタの解像度に基づいて選択してください。パッチ幅
を拡大すると、より正確な結果が出力される時もあります。
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測定条件
i1Pro 3 の測定装置は、複数の測定条件をサポートします。パッチは測定時
に、i1Pro 3 装置の LED で照明されます。
次の測定条件にはシングル（1回）測定を行います：
• ISO 13655 M0 | UVを含むタングステンフィラメントランプ
（フィルターなし）
• ISO 13655 M1 | D50
• ISO 13655 M2 | UV除去の照明（UVカット）
• ISO 13655 M3 | 偏光 (UVカット）
• OBC | エックスライト社の蛍光増白剤補正
i1Pro 3 装置のステータス・インジケーターは測定手順を表示します。
M3 偏光は、高い反射率／光沢を持つ基材、テキスタイルやセラミックなどの非標
準基材、完全に乾燥していないインキなどを測定する反射モードに便利です。
JP
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