스캔 측정 - X-Rite PANTONE i1 PRO 3 PLUS Manual De Uso

스캔 측정
가상 애퍼처 기술
패치 길이에 따른 스캔 중 가상 애퍼처
유효한 측정 (평균 산출에 사용됨)
유효하지 않은 측정
스캔 측정 중에 i1Pro 3 장치는 초당 400 회의 측정을 수행합니다. 장치는 자동
패치 감지를 통해 패치에서 측정된 사용 가능한 측정치와 두 패치 사이에서
측정된 사용 불가능한 측정치를 식별합니다. 패치의 유효한 측정치들의 평균을
산출하여 장치가 평균 결과를 소프트웨어에 보고합니다. 이 기술 덕분에
i1Pro 3 장치의 가상 애퍼처는 패치의 길이에 맞춰집니다. 최상의 측정 결과를
얻으려면 테스트 차트의 패치 길이를 프린터의 해상도에 따라 선택해야 합니다.
경우에 따라 패치 폭을 늘리면 보다 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
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측정 조건
i1Pro 3 측정 장치는 여러 측정 조건을 지원합니다. 단일 패스 스캔 측정의
경우, 패치에 i1Pro 3 장치의 LED 조명이 비춰집니다.
측정 조건으로 단일 패스 측정이 필요합니다.
• ISO 13655 M0 | UV가 포함된 텅스텐 필라멘트 램프 (필터 없음)
• ISO 13655 M1 | D50
• ISO 13655 M2 | UV 제외 조명(UV 차단)
• ISO 13655 M3 | 편광 (UV 차단)
• OBC | X-Rite 형광 증백제 보정
i1Pro 3 장치의 상태 표시기는 측정 과정을 안내합니다.
M3 편광 필터는 섬유, 도자기 등 높은 반사/광택의 비표준 재료 및 완전히
건조되지 않은 잉크를 측정할 때 반사 모드에서 사용하면 유용할 수 있습니다.
KO JP
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