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Errores de carga debidos a la resistencia de entrada
Los errores de carga de medición ocurren cuando la resistencia del dispositivo bajo prueba (DUT) es un porcentaje
apreciable de la propia resistencia de entrada del instrumento. El siguiente diagrama muestra esta fuente de error:
Donde:
V
= voltaje ideal del DUT
s
R
= resistencia de fuente del DUT
s
R
= Resistencia de entrada (10 MΩ o >10 GΩ)
i
Para minimizar los errores de carga, configure la resistencia de entrada de CC del DMM a más de 10 GΩ cuando sea
necesario.
Errores de carga debidos a la corriente de polarización de entrada
Los dispositivos semiconductores utilizados en los circuitos de entrada del DMM interno tienen corrientes de fuga
leves llamadas corrientes de polarización. El efecto de la corriente de polarización de entrada es un error de carga
en los terminales de entrada del DMM interno. La corriente de fuga se duplicará aproximadamente por cada 10 °C
que aumente la temperatura. Esto hará que el problema sea mucho más evidente a temperaturas más altas.
Donde:
Ib = Corriente de polarización de DMM
Rs = resistencia de fuente del DUT
Guía del usuario de Keysight DAQ970A/DAQ973A
4 Tutoriales de medición
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