Atmel ATmega164P/V Manual De Usuario página 210

23. JTAG Interface and On-chip Debug System
23.1 Features
• JTAG (IEEE std. 1149.1 Compliant) Interface
• Boundary-scan Capabilities According to the IEEE std. 1149.1 (JTAG)
Standard
• Debugger Access to:
– All Internal Peripheral Units
– Internal and External RAM
– The Internal Register File
– Program Counter
– EEPROM and Flash Memories
• Extensive On-chip Debug Support for Break Conditions, Including
– AVR Break Instruction
– Break on Change of Program Memory Flow
– Single Step Break
– Program Memory Break Points on Single Address or Address Range
– Data Memory Break Points on Single Address or Address Range
• Programming of Flash, EEPROM, Fuses, and Lock Bits through the JTAG
Interface
• On-chip Debugging Supported by AVR Studio®
23.2 Revisión General
El AVR IEEE std. 1149.1 con interfase dócil JTAG puede ser usada por
• Probando PCBs usando la capacidad del JTAG Boundary-scan
• Programando las memorias no volátiles, Fusibles y bits de Bloqueo
• On-chip debugging
Una breve descripción es dada en la siguiente sección- Una descripción
detallada de programación vía la interfase JTAG, y usando el Boundary-scan
Chain puede ser encontrada en la sección "Programando vía la interfase JTAG"
en la página 312 del datasheet y "IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary scan" en la
página 266 respectivamente. El On-chip Debug support es considerada siendo
instrucciones privadas del JTAG y distribuidas dentro de ATMEL.
La Figura 23-1 muestra el diagrama de bloques de la interfase JTAG y el On-
chip Debug system. El controlador TAP es una máquina de estado controlada
por las señales TCK y TMS. El controlador TAP selecciona el Registro de
Instrucciones JTAG o uno de varios Registro de Datos como el scan Caín
(Registro de desplazamiento) entre la entrada TDI y la salida TDO. El Registro
de Instrucción JTAG controla la conducta del Registro de Datos.
El registro-ID, Registro Bypass, y el Boundary-scan Chain son Registro de datos
usados por board-level testing. La programación de la Interfase JTAG
(actualmente consiste de Registro de datos físicos y virtuales) es usado por la
programación serial vía la interfase JTAG. El Internal Scan Chain and Break
Point Scan Chain son usados por On-chip debugging.
The ID-Register, Bypass Register, and the Boundary-scan Chain are the Data
Registers used