SICK LE20 Instrucciones De Operación página 598

Capítulo 9
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Dados técnicos
Dados eléctricos
Tempo de reacção de todo o
sistema
(independente da configuração
do sistema)
Tempo reacção para a entrada de teste máx. 30 ms
Tempo de rearme
TEST EXTERN
Tempo de ciclo do auto-teste
Saídas
Saídas OSSD 1, OSSD 2
(As indicações dos níveis referem-
se à ligação na ficha do aparelho)
TEST A, TEST B (não-activ/activo)
OVERRIDE LAMP
LAMP 1, 2
Dados operacionais
Classe de protecção
Tipo de protecção
Categoria de segurança
Requisitos
Eletromagnético compatibilidade
Temperatura ambiente de serviço
Temperatura de armazenagem
Tab. 9-1: Folha de dados LE 20 (continuação)
Manual de instruções
Unidade de avaliação
da segurança – LE 20
a ser calculado a partir das seguintes posições:
- C 2000/M 2000: aprox. 7 ms até 25 ms,
a depender da altura do campo de protecção
e da resolução
- Barreira fotoeléctrica de segurança de feixe
único: máx. 9 ms
- LE 20: 5 ms
- Módulo de relés 5 ms
máx. 50 ms
high: teste externo desactivado
low: teste externo activado
duração do impulso >30 ms
2 s
PNP, monitorizado e à prova de curto-circuito
Corrente de comutação I
Tensão de comut. U = UB – 2,0 V aos 500 mA
máx
Potência de comutação P
Potência de comutação indutiva P
Campo de protecção livre U = U
Campo de protecção interrompido U = 0 V
Corrente residual com um nível do sinal "0"
I = 0,1 mA
Carga capacitiva máx. 200 nF comI = 50 mA,
2,5 µF com I = 500 mA
Período de teste Velocidade de teste 2 s,
Largura do impulso de teste 150 µs ... 450 µs
U – 3,5 V/0 V
B
Corrente total TEST A + TEST B < 10 mA
Carga capacitiva máx. 10 µF
24 V DC, 1 ... 10 W
24 V DC, 1 ... 10 W
2
III )
IP 20, opcional IP 65
EN 61496, Typ 2
EN 61496
EN 61000-6-4
EN 55011 classe A
–20 °C ... +60 °C
–25 °C ... +75 °C
8 008 685/Q913/2007-05-21
= 500 mA
máx
= 13,2 W
máx
= 1 VA
máx ind
máx