Información de seguridad
Ajuste para B1+rms o TAE por debajo de los límites del modo de funcionamiento normal
Algunas secuencias de pulso pueden superar los límites de seguridad del implante para el sistema de EME de
Boston Scientific. Las siguientes directrices permitirán lograr los niveles inferiores de B1+rms o TAE. Si, en algún
punto antes de completar el flujo de trabajo completo, se ha logrado un nivel aceptable de B1+rms o TAE, no se
necesitan ajustes de parámetros adicionales. Si es posible el ajuste o la revisión de B1+rms en el escáner, puede
ser una opción preferible al ajuste o la revisión de la TAE puesto que B1+rms tiende a ser menos restrictivo y más
preciso.
Una vez que se ha optimizado una secuencia para B1+rms reducido, puede ser útil guardar los parámetros de la
secuencia localmente para el uso con otros pacientes con implantes similares.
Nota:
algunos escáneres proporcionan al usuario una estimación actualizada de B1+rms o TAE mientras que el
usuario cambia los parámetros de la secuencia. Si un escáner no proporciona esta información en tiempo
real, existe la opción de iniciar una exploración cada vez que se cambia un parámetro. En el momento
de iniciar una secuencia, el escáner debe proporcionar el nuevo nivel de B1+rms o TAE ajustado con los
parámetros elegidos.
• Si el escáner proporciona una "opción de implante", esta puede utilizarse para introducir las condiciones
de exploración.
• Si el escáner no proporciona una "opción de implante", muchas secuencias de impulso en el modo
normal, especialmente en la gama de eco de gradiente, tienen niveles de B1+rms o TAE bajos sin ninguna
modificación.
• Si la secuencia de impulso requerida supera el límite de implante de B1+rms o TAE, el tipo de impulso
de RF puede establecerse en "TAE baja" si el escáner dispone de esta opción. La opción de "TAE baja"
está disponible en la mayoría de los escáneres y ayuda a reducir el nivel de B1+rms o TAE sin afectar la
calidad de la imagen.
• Si la opción de "TAE baja" no está disponible o los niveles de B1+rms o TAE siguen superando los límites
del fabricante después de establecer el tipo de impulso de RF en "TAE baja", a continuación se exponen
dos opciones adicionales que pueden ayudar a reducir la exposición a RF. Estas dos opciones son
compensaciones que pueden ponerse en práctica en conjunto para lograr un resultado común óptimo.
○ Aumentar el TR. En algunos casos, el 20 %, por ejemplo de 2500 ms a 3000 ms podría ser
suficiente, pero esto podría aumentarse al 100 % si es necesario, por ejemplo de 550 ms a 1100 ms.
▪ Elija esta opción cuando la reducción del número de cortes no sea aceptable.
▪ Evite esta opción en las secuencias de T1-SE, puesto que esto afecta el contraste.
▪ Evite también esta opción si un mayor tiempo de exploración no es aceptable.
○ Reducir el número de cortes.
• Si los niveles de B1+rms o TAE siguen superando el límite de implante, la reducción de RF todavía puede
lograrse con:
○ Reducir el ángulo de giro (alpha), reducir el ángulo de giro de reenfoque o usar menos bandas de
saturación de RF.
○ Reducir el número de ecos (longitud de tren de eco/factor turbo/factor de disparo).
2 Referencias
McRobbie, et al. "MRI from Picture to Proton." 2007. Cambridge university press.
Faulkner W. "New MRI Safety Labels & Devices, B1+rms as a Condition of Use." SMRT Signals, Feb 2016 V5, Nol.
https://www.ismrm.org/smrt/E-Signals/2016FEBRUARY/eSig_5_1_hot_2.htm
Franceschi A.M. et al. "Optimized, Minimal Specific Absorption Rate MRI for High-Resolution Imaging in Patients with Implanted Deep
Brain Stimulation Electrodes."
AJNR Am J Neuroradio1. 2016 Nov; 37(11): 1996-2000.
Directrices para exámenes por RM de cuerpo entero con ImageReady™ para sistemas de estimulación de la médula espinal WaveWriter Alpha™ y WaveWriter Alpha™ Prime
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